安捷伦将测试产品推向模块化设备

　　近日，安捷伦科技在在深圳举办了亚洲区最大的测试测量科技盛会全方位展现了安捷伦电子测试测量的魅力。

　　模块化测试设备

　　安捷伦从2010年10月至今已推出50余款 PXI 和AXIe产品，将测试与测量系列产品扩展到模块化产品领域。当前制造业面临的最大问题是，单一的平台无法应对所有的测试情况，必须使用大量测试设备，耗费时间导致成本上升。

　　与传统的整体化测试仪器相比，模块化有着更灵活多变，升级扩展容易等优势限，为客户节约测试时间和人力成本。但安捷伦表示今后不会放弃传统仪器这一块，模块化与整体化将并存发展，并且在保持AXIe总线产品主导的同时，增加对PXI总线产品的投入。

　　PCI-e 2.0 机箱为业界首款，以及M9392A VSA，业界第一款由单个厂商生产的 PXI 微波矢量信号分析仪，并通过功能强大、广泛应用的 Agilent 89600 VSA 软件得到了增强。该产品组合能够对通信、雷达和航空电子信号(高达 26.5 GHz)进行详细分析，并为下一代无线系统和其他应用提供业界领先的 250 MHz 瞬时带宽。配合超宽带下变频器，可实现对超过1GHz带宽的信号捕获和分析。此外，微波矢量信号分析仪(VSA)也成为解决宽带功放预失真测试(DPD)有力手段。

　　PXT 仪器是 LTE 终端测试领域的一项重大突破。它提供灵活的基站/网络仿真和射频参数测试功能，是安捷伦针对 LTE 开发和验证的测试产品系列中又一出色的测试解决方案。

　　PXT 具有最大的灵活性，可配置各种连接和网络参数，进行测量和调试所设计的协议和数据处理能力，包括下行 2x2 MIMO (两步法模拟)和切换(I-RAT)。可选的应用软件支持更详细的协议和应用测试及分析。可以连续记录几天不间断测试产生的数据，并且通过远程协助功能(System-View)帮助工程师解决测试中遇到的实际问题。

　　然而最大的亮点还是针对LTE移动设备的耗电量模拟测试。当今各种智能手机、平板电脑的功能越来越强大，电池却越来越不够用。如何帮助终端厂商优化电源设计?PXT有办法。

　　PXT 仪器还可用于安捷伦的设计验证和一致性测试解决方案，覆盖整个LTE研发周期。借助这款全新产品，就能更迅速、更高效地将设计推向市场，并继续提供适用于产品生命周期各个阶段的全套工具。

　　随着HDMI1.4，USB3.0,Display Port等各种高速数据线缆的广泛使用，高速数据线缆的测试成为线缆厂商的一大挑战，安捷伦元器件测试工厂市场应用工程师真锅秀一先生(HidekazuManabe)，为我们介绍了网络分析仪E5071C选件TDR。它可以既进行传统的S参数测试，又可以进行TDR各项指标的测试。

　　传统上，基于采样示波器的时域反射计 (TDR) 一直用于电缆和印刷电路板的测试。由于这种示波器的噪声相对较大，同时实现高动态范围和快速测量具有一定难度，虽然通过取平均法可以降低噪声，但是这会影响测量速度。示波器上用于测量时序偏差的多个信号源之间的抖动，也会导致测量误差。此外，给TDR 示波器设计静电放电 (ESD) 保护电路非常困难，因此TDR 示波器容易被ESD 损坏。这些问题只凭TDR 示波器基本上很难解决，只有通过E5071C-TDR — 基于矢量网络分析仪 (VNA) 的TDR 解决方案才能解决。

　　与传统TDR相比，基于ENA的TDR操作上更简单，测量更快速精确，并且通过其测试的线材均可达到HDMI,SATA等实验室认证标准。所以厂商无须花大价钱去购买整套测试设备，只须在TDR上进行预测，便可送实验室进行认证。当然，如果不放心，预测时可以适当加严。TDR选件目前已经覆盖到5Gbps的总线速度标准，并且提供在线免费固件升级服务。