半导体测试

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大容量存储器集成电路测试

大容量存储器集成电路的测试系统是科技型中小企业技术创新基金项目,是根据大容量存储器集成电路SDRAM、DDR SDRAM和：flash RAM的发展趋势而研究开发的测试系统。方案的主要内容为测试...

2012-04-26 标签：存储器集成电路测试 1732

功率半导体结温的仿真估计

设计师在减轻热问题时常常需要做出很多折衷，包括电源变换拓扑结构的选择、开关频率的选择、半导体封装形式的选择，还有半导体类型、散热方式、变换电路的具体位置、电路板材...

2012-04-26 标签：仿真功率半导体结温 3639

利用测试排序仪器降低测试成本

越来越小的利润空间正驱使元器件制造商降低生产成本，包括测试成本在内。采用具有嵌入式测试排序器的仪器会起到作用。为了采取更有效的测试手段来提高利润空间，制造商要考虑...

2012-04-26 标签：测试仪器测试成本 682

瞬间变化电流检测仪设计方案

本设计利用短路电流放大器的原理对检测电流进行1：1放大后，可结合附属电路借助发光二极管定性地检测瞬变电流的大小和变化方向。...

2012-04-26 标签：电流检测仪 2096

加快Li+电池充电器测试

锂离子(Li+)电池比其它化学类型的电池更脆弱，对于违规操作具有非常小的容限。对 Li+ 电池充电器设计进行完全测试并在整个工作范围内进行分段测试非常重要。然而，采用常规负载...

2012-04-26 标签：充电器 969

进行电平测量时需要考虑的速度问题

理解稳态直流信号加到电压表上的情况在概念上没有什么困难。然而，如果该信号具有时变的分量，例如在直流信号上叠加了交流信号，仪表就将跟随该变化的信号，并表示出该输入信...

2012-04-26 标签：电平测量 506

USB PLUS接口的测试剖析

笔记本电脑上出现了USB+eSATA Combo插槽，除了可供一般USB产品使用也可供外接式eSATA产品使用。这个设计想必是为了因应高解析高画质(High Definition)时代的大容量文件传输需求，让外接式储...

2012-04-26 标签：Plus usb 接口 834

半导体激光器可靠性评估系统设计

半导体激光器可靠性评估系统是高效能激光器研制过程中必不可少的测试设备之一。本文设计的半导体激光器可靠性评估系统以单片机为主控部件....

2012-04-23 标签：半导体激光器可靠性评估系统 2487

LED大屏幕显示屏灰度等级检测技术研究

　　摘要：在当今以数字化为主要特征的L ED 显示领域，显示灰度控制技术已经日臻成熟，沿用的亮度和灰度等级鉴别方法已经相对落后。文章通过分析L ED 显示器的显示特性和灰度复...

2012-04-23 标签：LED大屏幕显示屏检测技术 5767

提高电路检测质量的一种方法

触发决定了示波器何时开始采集数据和显示波形。一旦触发被正确设定，它就可以将不稳定的显示转换成有意义的波形。在实际工作中，很多工程师通常把示波器的触发功能视为一定的...

2012-04-20 标签：电路检测 815

提高DFT测试覆盖率的方法

现今流行的可测试性设计(DFT：Design For Testability)为保证芯片的良品率担任着越来越重要的角色。...

2012-04-20 标签：DFT 测试覆盖率 6204

单片机在自动血压监控系统中的应用

　　目前医院使用的自动血压监控系统大多为进口设备，价格昂贵，就医成本高。本文所讨论的系统价格低廉，测量准确，有其独特之处，具有很高的实用价值。 ...

2012-03-28 标签：单片机单片机自动血压监控 728

判别端子的晶体管测试仪

　　图1中的简单晶体管测试仪可以判断出晶体管的类型，并且能帮助检测出晶体管的发射极、集电极和基极。其方法是检查被测晶体管三个端子T1、T2和T3之间流过的各种可能电流方向的...

2012-03-28 标签：晶体管晶体管测试仪测试仪 1739

基于脉冲计数法的多量程电阻电容测试仪的设计

引言常用的测量电阻和电容的方法主要有纯模拟电路法、PLC法。采用纯模拟电路法设计电阻电容测试仪，可以避免编程的麻烦，但是电路复杂、灵活性差、测量精度低；采用PLC法设计的...

2012-03-28 标签：测试仪脉冲计数 1794

基于GP-IB总线的加速度计测试系统设计

加速度计是惯性导航系统中的重要敏感元件，在高精度定位定向系统中，其性能的好坏起着关键作用，为此需对加速度计进行严格的测试。到目前为止，许多加速度计的检测仍然采用人...

2012-03-28 标签：GP-IB总线加速度计测试系统 1474

基于MAX1452的应变测试系统前端模块的设计

在飞行试验中，对飞机应变量进行测试是十分普遍而且重要的，也是鉴定飞机本身的性能和安全的重要依据。随着飞机飞行试验中需要测试的应变参数数量的大量增加和机载测试技术的...

2012-03-28 标签：MAX1452 前端模块应变测试 9206

基于MSP430F169的多路电阻测量系统设计

在实际工作中，对于多路电阻进行测量，一般采用直接测量法人工操作进行，虽然这种方法很成熟，但所用的配套设备较多，测量数据手工纪录、人工计算，操作繁琐、效率较低，事后...

2012-03-28 标签：MSP430F169 测量系统电阻测量 2224

如何在集成系统中测量温度

　　随着处理器速度提高并消耗更多功耗，热管理成为所有使用微控制器的器件中的日益重要的问题。由于热管理变得日益重要，所使用的技术变得更复杂和有条件限制。然而，归其根...

2012-03-28 标签：温度测量集成电路测试 1190

喷墨打印机在单片机测控系统中的应用

　　通常情况下，并口喷墨打印机（以下简称打印机）是由普通PC机来驱动的。PC机中的并行端口有三种工作模式，分别是SPP（标准并行接口），EPP（增强型并行接口），ECP（扩展型并行...

2012-03-28 标签：单片机单片机喷墨打印机测控系统测量技术 1403

PSoC微控制器与LVDT的连接

将一个LVDT(线性可变差分变压器)连接到一个微控制器是有挑战性的工作，因为一个LVDT需要交流输入的激励和对交流输出的测量，以确定其可动核的位置(参考文献1)。...

2012-03-28 标签：LVDT PSoC 微控制器 1981

ZC-8接地电阻测试仪表的使用

ZC-8接地电阻测试仪表的使用,1、将仪表放置水平位置，检查检流计的指针是否在中心线上，否则应用零位调整器将其调整于中心线上。...

2012-03-28 标签：接地电阻测试仪表 5487

半导体参数测试的关键问题之一：探针的接触电阻

　　通常，参数测试系统将电流或电压输入被测器件（DUT），然后测量该器件对于此输入信号的响应。这些信号的路径为：从测试仪通过电缆束至测试头，再通过测试头至探针卡，然后...

2012-03-28 标签：半导体测试探针接触电阻 5568

ICT在线测试基本原理

在线测试，ICT，In-Circuit Test，是通过对在线元器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试手段。...

2012-03-26 标签：ICT在线测试在线测试 4390

半导体特性分析仪和脉冲产生器测量电荷泵

电荷泵测量方法广泛应用于MOSFET元件的介面态密度测量。随着高介电常数(高)闸极材料的发展，已证明电荷泵对高薄闸极薄膜中电荷陷阱现象的测量极为有效。...

2011-09-30 标签：半导体特性分析仪电荷泵脉冲产生器 1895

EPM7128在光栅位移测量仪中的应用

　　基于EPM 7128SLC84-15构成的位移测量系统具有分辨率高、误差小、电路结构简单、成本低等优点，完全能够满足实际测量的需要。由于采用的是CPLD设计，系统易于升级。 ...

2011-09-01 标签：EPM7128 位移测量仪光栅 1939

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