苏州埃利测量仪器有限公司

动态

• 发布了文章 2026-06-18 18:05

  一文读懂铜薄膜热导率尺寸效应：马西森定则的室温实验验证

  

  互连线尺寸一路缩小，铜导线的热导率怎么跟着薄膜厚度变？这直接关系到芯片散热和可靠性。马西森定则长期被用来评估电子散射速率变化，但这条定则在室温下到底准不准，一直没人做过实验验证。本文解读一项发表在NatureCommunications上的研究——从27纳米到5微米厚度的铜薄膜，热导率变化规律是什么？电子-声子耦合又扮演什么角色？在工业实践中，Xfilm埃利

  测量 芯片 薄膜

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• 发布了文章 2026-06-16 18:02

  垂直四探针晶圆检测装置的设计及应用

  

  在半导体制造、光伏和显示面板领域，晶圆电阻率均匀性直接影响器件性能和良率。垂直四探针晶圆检测技术作为关键计量手段，能够精准评估薄层电阻（方阻）和电阻率分布，但探针压力（压入深度）控制不当常导致测量偏差或表面损伤。针对这些痛点，一项基于垂直四探针的国产化晶圆检测装置设计研究提供了实用解决方案。Xfilm四探针方阻测试仪在类似场景中，能够实现从研发到在线监测的平

  晶圆 检测装置

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• 发布了文章 2026-06-11 18:02

  非晶CoSi薄膜：越薄电阻率越低的反常标度行为

  

  铜互连缩到5nm以下，电阻率飙升是绕不过去的坎。拓扑材料因为受拓扑保护的表面态对电子散射不敏感，被视作超缩放互连的潜在候选。CoSi是一种拓扑手征半金属，理论预测其表面态具有极低的表面电阻率。IBM团队用分子束外延沉积了2-82.5nm厚度的CoSi薄膜，系统测量了电阻率标度和磁输运特性，发现了一个反直觉的结果：非晶CoSi薄膜越薄，电阻率反而越低。这种反常

  测试仪 电阻 薄膜

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• 发布了文章 2026-06-09 18:02

  四探针法电阻率测量不确定度怎么评定

  

  四探针电阻率测试仪之所以长期用于半导体材料、薄膜和晶圆电学表征，核心原因在于它能有效减小接触电阻和边缘效应带来的干扰，让电阻率与方块电阻测量更接近材料真实状态。对实验室和产线来说，真正决定结果可信度的，不只是“测出来了”，还包括“测得稳不稳、准不准、能不能追溯”。Xfilm四探针方阻仪结合JJG508—2004标准的思路，把四探针电阻率测试结果的不确定度评定

  半导体 测试仪 测量

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• 发布了文章 2026-06-04 18:03

  非晶NbP半金属颠覆传统电阻率尺寸效应

  

  铜互连的电阻率随薄膜减薄而飙升，这是先进封装和超大规模集成电路面临的经典瓶颈。常规金属在5nm以下厚度时电阻率可达体材的10倍以上，方阻动辄上百Ω/□，用Xfilm埃利四探针方阻仪一测便知。本文在Weyl半金属NbP中发现了完全相反的趋势：薄膜越薄，电阻率反而越低。1.5nm厚的NbP室温电阻率仅约34μΩ·cm，比体材NbP还低6倍，比同厚度的Cu低了近3

  测量仪 电阻

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• 发布了文章 2026-05-28 18:01

  方阻表征验证纳米氧化物让铜键合更强：先进封装的逆向思维

  

  铜-铜键合是2.5D/3D封装最核心的互连工艺，但直接键合界面强度低、温度高，一直卡着行业脖子。本文发表了一项反直觉的研究：故意在铜纳米膜里撒纳米氧化物，键合强度反而飙升35倍。方阻表征用的是四探针法——Xfilm埃利四探针方阻仪在这类超薄膜电学评估中精度独一份，纳米尺度方阻的细微变化都跑不掉。异质纳米结构：铜晶粒+氧化物弥散/Xfilm团队用PSBEE法在

  DSC 封装

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• 发布了文章 2026-05-26 18:03

  四探针测试选尖针还是圆头？一文看懂选型逻辑

  

  在半导体晶圆方阻测试和薄膜电阻率测量中，许多工程师面临同一个难题：四探针探头到底该选尖头还是圆头？错误的选择常导致样品损伤或数据不稳，直接影响工艺优化和产品良率。四探针探头选择的核心在于平衡测量精度与样品保护。尖头与圆头各有适用场景，正确配置能显著提升测试可靠性。Xfilm在线四探针系统支持多种探头配置，帮助用户在实验室研发到生产线监控中实现高效测量。探头选

  半导体 测试 电阻

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• 发布了文章 2026-05-21 18:06

  铜互连之后：化合物导体突破先进节点电阻率瓶颈

  

  随着集成电路特征尺寸持续缩减，铜互连的电阻率因电子在表面和晶界的散射急剧上升，加之阻挡层和衬层的可缩减性受限，已成为制约微电子器件进一步微缩的关键瓶颈。铜的电子平均自由程约40nm，已远超最先进技术节点局部互连的半节距，寻找替代互连材料迫在眉睫。借助Xfilm埃利四探针方阻仪对薄膜方阻的精确测量，研究者能够定量评估互连材料的电阻率尺寸效应，为寻找铜的替代方案

  仪器 测量 电阻 电阻率

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• 发布了文章 2026-05-19 18:06

  如何用四探针测量半导体电阻率

  

  在半导体行业中，准确测量晶圆电阻率是材料研发和制程质量控制的关键环节。随着工艺节点不断缩小，器件对电性一致性的要求日益严格，仅靠经验无法满足现代制造的需求。因此工程师们大量采用四探针方法对电阻率进行高精度测量。相比传统测量方式，Xfilm四探针方阻仪方法能有效减少接触阻抗误差，是晶圆电阻率检测的行业标准。现代高性能专业设备解决方案已集成自动校准、数据映射等功

  半导体 测量 电阻

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• 发布了文章 2026-05-14 18:04

  ABC型原子层沉积钌薄膜：后铜互连的低电阻率突破

  

  随着半导体互连线宽持续微缩，铜互连的电阻率因电子在表面和晶界的散射而急剧上升，寻找替代互连金属成为行业迫切需求。钌凭借较低的体电阻率（7.1μΩ·cm）和短的电子平均自由程（6.6nm），在纳米尺度下受尺寸效应影响较小，被视为最有竞争力的候选材料之一。然而，高温原子层沉积过程中前驱体的热分解问题限制了钌薄膜质量的提升。本文介绍一种新型ABC型ALD工艺，通过

  半导体 电阻 薄膜

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