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苏州埃利测量仪器有限公司

材料电阻率、方阻、接触电阻、少子寿命测试设备。

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动态

  • 发布了文章 2025-09-29 13:47

    激光增强接触优化(JSIM)对TOPCon电池接触电阻与湿热稳定性的双重改善

    Xfilm埃利测量通过高精度电阻检测技术助力TOPCon电池工艺革新。针对传统Ag/Al浆料在DH85湿热环境下铝腐蚀引发的接触电阻暴增(ΔRs=13,000%)与PCE衰减92%问题,借助Xfilm的高灵敏度电阻检测系统赋能激光辅助烧结技术(JSIM)采用无铝浆料体系,结合低温烧结工艺使DH85测试中PCE衰减率降至3.6%,FF损失减少86%。SEM-E
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  • 发布了文章 2025-09-29 13:47

    汽车电连接器的接触电阻特性及优化研究

    Xfilm埃利测量作为电阻/方阻及薄膜电阻检测领域的创新引领者,始终以核心技术创新驱动发展,专注于为集成电路、光伏及新能源产业提供高精度量测与检测解决方案。针对新能源汽车产业对大功率充电连接器性能要求的持续升级,聚焦电连接器接触电阻优化,通过Xfilm埃利测量的TLM接触电阻测试系统结合实验验证为高可靠性连接器设计提供了量化理论模型支撑。物理机制与经典模型/
  • 发布了文章 2025-09-29 13:47

    石墨烯量子霍尔效应:载流子类型依赖性及其计量学应用

    石墨烯因其零带隙能带结构和高载流子迁移率,在量子霍尔效应研究中具有独特优势。然而,基于碳化硅衬底的石墨烯(SiC/G)器件中,n型与p型载流子的输运性能差异显著。Xfilm埃利测量作为电阻检测领域的创新引领者,依托ECOPIA霍尔效应测试仪HMS-3000的高精度量测能力,系统研究了SiC/G器件中n型与p型载流子的输运性能差异,并评估了其在量子计量中的应用
  • 发布了文章 2025-09-29 13:47

    四探针测试法在铜/FR4复合材料电性能研究中的应用

    在现代电子设备中,印刷电路板(PCB)作为核心部件,其电性能的稳定性至关重要。Xfilm埃利专注于电阻和薄层电阻检测领域的创新研发,致力于为集成电路和光伏产业提供高精度的量检测解决方案。本文通过Xfilm埃利的四探针方阻仪,系统分析了铜/FR4复合材料在不同振动周期和温度下的电阻率和电导率变化。实验方法与理论模型/Xfilm实验方法:实验样品:单层铜薄膜(厚
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  • 发布了文章 2025-09-29 13:46

    高精度TLM测量技术:在金属-石墨烯接触电阻表征中的应用研究

    石墨烯作为最具代表性的二维材料,凭借其卓越的电学性能在高性能电子器件领域展现出巨大应用潜力。然而,金属-石墨烯接触电阻问题一直是制约其实际应用的瓶颈。接触电阻可占石墨烯场效应晶体管(GFET)总电阻的50%以上,显著影响器件性能。Xfilm埃利测量专注于电阻/方阻及薄膜电阻检测领域创新研发与技术突破。本文基于Xfilm埃利TLM接触电阻测试仪,系统评估了TL
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  • 发布了文章 2025-09-29 13:46

    金属-半导体接触电阻测量的TLM标准化研究:模型优化与精度提升

    Xfilm埃利测量专注于电阻/方阻及薄膜电阻检测领域的创新研发与技术突破,致力于为全球集成电路和光伏产业提供高精度、高效率的量检测解决方案。公司以核心技术为驱动,深耕半导体量测装备及光伏电池电阻检测系统的研发。在半导体器件制造过程中,金属-半导体欧姆接触的质量直接影响器件性能。传输线模型(TLM)作为最常用的测量方法,其测量结果却在不同尺寸设备间存在显著差异
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  • 发布了文章 2025-09-29 13:46

    低电流接触电阻机理研究:汽车电动化中多触点接触电阻的实验验证

    电接触是电子与汽车系统中不可或缺的组件。随着汽车行业向电动化转型,传感器与数据采集所需的电连接器数量大幅增加。接触故障可能导致设备损坏甚至危及生命安全,而高接触电阻是引发故障的主要因素之一。为精确量化接触电阻特性,本研究结合数值模拟与解析方法,并依托Xfilm埃利TLM接触电阻测试仪的实验验证能力,对多触点系统的电阻分布规律展开分析。解析模型与数值模型构建/
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  • 发布了文章 2025-09-29 13:46

    量子霍尔效应(QHE)的界面耦合诱导与双栅调控:石墨烯-CrOCl异质结的机制研究

    量子霍尔效应(QHE)作为凝聚态物理中的经典现象,其拓扑保护的边缘态在精密测量和量子计算中具有重要价值。近年来,石墨烯因其独特的狄拉克锥能带结构成为研究QHE的理想平台。然而,界面耦合对QHE的调控机制仍存在诸多未解之谜。本研究通过构建石墨烯与反铁磁绝缘体CrOCl的异质结,并基于ECOPIA霍尔效应测试仪HMS-3000的高精度电学表征系统,首次观测到一种
  • 发布了文章 2025-09-29 13:46

    四探针法校正因子的全面综述:基于实验与数值模拟的电阻率测量误差修正

    四探针法(4PP)作为一种非破坏性评估技术,广泛应用于半导体和导电材料的电阻率和电导率测量。其非破坏性特点使其适用于从宏观到纳米尺度的多种材料。然而,传统解析模型在校正因子的计算中存在近似误差,尤其是在样品几何尺寸与探针间距相当时。本文通过数值模拟和实验交叉验证并结合Xfilm埃利四探针方阻仪提供的准确测量数据优化这些校正因子,提升测量准确性。四探针法的基本
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  • 发布了文章 2025-09-29 13:45

    采用传输线法(TLM)探究有机薄膜晶体管的接触电阻可靠性及变异性

    有机薄膜晶体管(TFTs)的高频性能受限于接触电阻(RC),尤其是在短通道L1cm²(V・s)条件下。即使采用相同材料和工艺,接触电阻仍存在显著的批次间差异。这种变异性对器件性能的可靠性和规模化生产提出了挑战。本研究通过Xfilm埃利TLM接触电阻测试仪的高精度传输线法分析,结合通道形貌的纳米级表征,系统揭示了接触电阻的测量误差来源及其变异性机
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认证信息: Xfilm电阻测试

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