苏州埃利测量仪器有限公司文章

• 四探针法测电阻的原理与常见问题解答2025-12-04 18:08

  

  四探针法是广泛应用于半导体材料、薄膜、导电涂层及块体材料电阻率测量的重要技术。该方法以其无需校准、测量结果准确、对样品形状适应性强等特点，在科研与工业检测中备受青睐。在许多标准电阻率测定场合，四探针法甚至被用作校正其他方法的基准。下文，Xfilm埃利将系统阐述四探针法的基本原理，并对实际应用中遇到的常见问题进行详细解答。四探针法测电阻的基本原理/Xfilm1

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• 基于四点探针法测量石墨烯薄层电阻的IEC标准2025-11-27 18:04

  

  自石墨烯在实验室中被成功分离以来，其基础研究与工业应用迅速发展。亟需建立其关键控制特性的标准测量方法。国际电工委员会发布的IECTS62607-6-8:2023技术规范，确立了使用四点探针法评估单层石墨烯薄层电阻（RsRs）的标准化流程。Xfilm埃利四探针方阻仪作为符合该标准要求的专业测量设备，可为石墨烯薄层电阻的精确测量提供可靠的解决方案。本文介绍了支撑

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• 基于四探针测量的 BiFeO₃畴壁欧姆响应研究2025-11-20 18:03

  

  导电畴壁（DWs）是新型电子器件的关键候选结构，但其纳米尺度与宿主材料高电阻特性导致电学表征困难。Xfilm埃利四探针方阻仪可助力其电阻精确测量，本文以四探针测量技术为核心，采用亚微米级多点探针（MPP），实现BiFeO₃（BFO）薄膜铁弹/铁电71°畴壁的无损、无光刻面内输运测量，并给出了其电阻率的首次四探针测量值。四探针与二探针配置/Xfilm使用继电器

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• 锂电池嵌入电极颗粒的传输线法TLM 模拟研究2025-11-13 18:05

  

  在锂离子电池研发与性能评估中，精确表征材料内部的离子传输行为至关重要。Xfilm埃利的TLM接触电阻测试仪广泛用于测量电极材料，为电池阻抗分析提供关键数据。本文系统提出了一种用于描述电池内部活性颗粒中锂离子扩散行为的传输线模型TLM。该模型通过有限体积法离散化扩散方程，构建出具有明确物理意义的等效电路，不仅能与TLM测试仪所获得的实验数据形成互补，更能从微观

  TLM 电极 锂电池 124浏览量

• 基于微四探针测量的热电性能表征2025-11-06 18:04

  

  随着电子器件尺寸持续缩小，热管理问题日益突出。热电材料的三项关键参数——电导率（σ）、热导率（κ）和塞贝克系数（α），共同决定了器件的热电优值（ZT），进而影响其能效与可靠性。四探针技术因其高空间分辨率、无损接触和快速测量等优势常应用于电导率测量，Xfilm埃利四探针方阻仪是电导率测量的重要设备。本文将解析基于谐波电压分析的微四探针方法，旨在通过单一测量同时

  测量 电压 电导率 162浏览量

• 基于四端自然粘附接触（NAC）的有机单晶四探针电学测量2025-10-30 18:05

  

  在有机单晶电学性能表征领域，四探针测量技术因能有效规避接触电阻干扰、精准捕捉材料本征电学特性而成为关键方法，Xfilm埃利四探针方阻仪作为该领域常用的专业测量设备，可为相关研究提供可靠的基础检测支持。本文基于四端自然粘附接触（NAC）技术，进一步优化有机单晶四探针测量方案，以α-(BEDT-TTF)₂I₃为研究对象，通过四探针测量观测到陡峭的金属-绝缘体转变

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• 基于传输线模型（TLM）的特定接触电阻率测量标准化2025-10-23 18:05

  

  金属-半导体欧姆接触的性能由特定接触电阻率（ρₑ）表征，其准确测量对器件性能评估至关重要。传输线模型（TLM）方法，广泛应用于从纳米级集成电路到毫米级光伏器件的特定接触电阻率测量，研究发现，不同尺寸的TLM结构测得值存在显著差异，表明测试结构的几何尺寸对提取结果有影响。Xfilm埃利的TLM接触电阻测试仪，凭借高精度与智能化特性，为特定接触电阻率（ρₑ）和薄

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• 基于微四探针(M4PP) 测量的石墨烯电导性能评估2025-10-16 18:03

  

  石墨烯作为原子级薄二维材料，具备优异电学与机械性能，在防腐、OLED、传感器等领域应用广泛。随着大面积石墨烯生长与转移技术的成熟，如何实现其电学性能的快速、无损、高分辨率表征成为推动其产业化应用的关键。Xfilm埃利四探针方阻仪作为高精度电学测量设备，在该领域展现出重要的技术价值。微四探针（M4PP）凭借高精度、高空间分辨率及支持霍尔效应测量的优势，成为石墨

  晶圆 测量 石墨烯 162浏览量

• 基于四探针法 | 测定钛基复合材料的电导率2025-10-09 18:05

  

  钛基金属复合材料因其优异的力学性能、轻质高强、耐高温和耐磨性，在航空航天领域具有广阔的应用前景。与纯金属不同，Ti基复合材料的电导率受微观结构、制备工艺及几何形态影响显著。Xfilm埃利四探针通过分离电流与电压测量路径，可有效消除接触电阻，结合几何修正与环境控制，成为Ti基复合材料电导率测定的理想技术。下文将系统阐述基于四探针法的钛基复合材料电导率测定方法与

  复合材料 测量 电导率 336浏览量

• 接触电阻与TLM技术深度解密：从理论到实操，快速掌握精准测量核心2025-09-29 13:47

  

  Xfilm埃利测量专注于电阻/方阻及薄膜电阻检测领域的创新研发与技术突破，致力于为全球集成电路和光伏产业提供高精度、高效率的量检测解决方案。公司以核心技术为驱动，深耕半导体量测装备及光伏电池电阻检测系统的研发。在半导体以及光伏器件制造中，接触电阻的精确测量是优化器件性能的关键。本文结合专业文献深入解析接触电阻的测量原理及TLM技术，并通过实例演示如何计算关键

  TLM 接触电阻 测量 819浏览量