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• 发布了文章 2025-11-11 13:25

  如何检测晶圆清洗后的质量

  

  检测晶圆清洗后的质量需结合多种技术手段，以下是关键检测方法及实施要点：一、表面洁净度检测颗粒残留分析使用光学显微镜或激光粒子计数器检测≥0.3μm的颗粒数量，要求每片晶圆≤50颗。共聚焦激光扫描显微镜可三维成像表面形貌，通过粗糙度参数评估微观均匀性。有机物与金属污染检测紫外光谱/傅里叶红外光谱：识别有机残留（如光刻胶）。电感耦合等离子体质谱：量化金属杂质含量

  显微镜

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• 发布了文章 2025-11-11 13:24

  晶圆清洗甩干后有水斑怎么回事

  

  圆清洗甩干后出现水斑，可能由以下原因导致：水质问题：若使用的水中含有较多矿物质（如钙、镁离子），甩干时水分蒸发后，矿物质会残留形成白色或灰白色的水斑。表面材质特性：若圆的材质（如金属、玻璃等）表面存在细微孔隙或涂层不均匀，水分渗入后难以完全排出，干燥过程中残留的水渍会形成斑点。甩干不彻底：甩干时间不足或转速不够，导致部分水分未被完全脱离，残留在表面或缝隙中，

  晶圆

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• 发布了产品 2025-11-11 12:00

  4L-20桶清洗机

  

  产品型号：dzbtzqxj

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• 发布了文章 2025-11-04 16:13

  兆声波清洗对晶圆有什么潜在损伤

  

  兆声波清洗通过高频振动（通常0.8–1MHz）在清洗液中产生均匀空化效应，对晶圆表面颗粒具有高效去除能力。然而，其潜在损伤风险需结合工艺参数与材料特性综合评估：表面微结构机械损伤纳米级划痕与凹坑：兆声波产生的微射流和声流冲击力可达数百MPa，若功率密度过高或作用时间过长，可能对晶圆表面造成微观划痕或局部腐蚀。图形结构变形风险：对于高深宽比的3DNAND闪存结

  半导体 晶圆

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• 发布了文章 2025-11-04 16:00

  超声清洗机30khz和40khz哪个好些

  

  在选择超声清洗机时，30kHz和40kHz的频率各有特点，需根据具体需求权衡：一、空化效应与清洗强度30kHz（低频）：频率较低，产生的气泡更大，破裂时冲击力更强，适合去除顽固污垢或大型部件表面的重油污。但可能对精密零件造成损伤，且噪音较大。例如工业场景中清洗机械零件或带有结合力较强污染物的设备。40kHz（高频）：气泡更小且密集，冲击力均匀温和，穿透力强，

  清洗机 超声

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• 发布了文章 2025-10-30 10:47

  破局晶圆污染难题：硅片清洗对良率提升的关键作用

  

  去除表面污染物，保障工艺精度颗粒物清除：在半导体制造过程中，晶圆表面极易附着微小的颗粒杂质。这些颗粒若未被及时清除，可能会在后续的光刻、刻蚀等工序中引发问题。例如，它们可能导致光刻胶涂层不均匀，影响图案转移的准确性；或者在刻蚀时造成局部过刻或欠刻，从而改变电路的设计尺寸和性能。通过有效的清洗，可以确保晶圆表面的平整度和洁净度，为高精度的加工工艺提供基础保障。

  半导体制造 晶圆 硅片

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• 发布了文章 2025-10-30 10:45

  从晶圆到芯片：全自动腐蚀清洗机的精密制造赋能

  

  全自动硅片腐蚀清洗机的核心功能与工艺特点围绕高效、精准和稳定的半导体制造需求展开，具体如下：核心功能均匀可控的化学腐蚀动态浸泡与旋转同步机制：通过晶圆槽式浸泡结合特制转笼自动旋转设计，使硅片在蚀刻液中保持匀速运动，确保各区域受蚀刻作用一致，实现极高的表面平整度（如增量δTTV≤1.5μm）。这种动态处理方式有效避免局部过蚀或欠蚀问题，尤其适用于复杂图形化的晶

  晶圆 清洗机 芯片

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• 发布了文章 2025-10-28 11:52

  清洗晶圆去除金属薄膜用什么

  

  清洗晶圆以去除金属薄膜需要根据金属类型、薄膜厚度和工艺要求选择合适的方法与化学品组合。以下是详细的技术方案及实施要点：一、化学湿法蚀刻（主流方案）酸性溶液体系稀盐酸（HCl）或硫酸（H₂SO₄）基配方：适用于大多数金属（如铝、铜、镍）。例如，用浓度5%~10%的HCl溶液可有效溶解铝层，反应生成可溶性氯化铝络合物。若添加双氧水（H₂O₂）作为氧化剂，能加速金

  晶圆

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• 发布了文章 2025-10-28 11:47

  半导体六大制程工艺

  

  1.晶圆制备（WaferPreparation）核心目标：从高纯度多晶硅出发，通过提纯、单晶生长和精密加工获得高度平整的圆形硅片（晶圆）。具体包括直拉法或区熔法拉制单晶锭，切片后进行研磨、抛光处理，最终形成纳米级表面粗糙度的衬底材料。例如，现代先进制程普遍采用300mm直径的大尺寸晶圆以提高生产效率。该过程为后续所有微纳加工奠定物理基础，其质量直接影响器件性

  半导体 半导体制程 半导体制造 晶圆

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• 发布了文章 2025-10-27 11:27

  晶圆清洗后如何判断是否完全干燥

  

  判断晶圆清洗后是否完全干燥需要综合运用多种物理检测方法和工艺监控手段，以下是具体的实施策略与技术要点：1.目视检查与光学显微分析表面反光特性观察：在高强度冷光源斜射条件下，完全干燥的晶圆呈现均匀镜面反射效果，无任何水膜干涉条纹或晕染现象。若存在局部湿润区域，光线散射会产生模糊的暗斑或彩色光晕。显微镜下微观验证：使用金相显微镜放大观察晶圆边缘及图案结构凹槽处，

  检测

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