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电子产品测试秘诀:一招教你实现全面的温度监控!

西西 来源:未知 作者:厂商供稿 2018-12-29 11:21 次阅读
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在电子产品测试领域,由于测试程序不当而导致的产品召回以及返工会带来难以承受的损失。那么如何在实验室产品测试环节保证产品进行全面的温度监控,发现产品的设计缺陷,从而避免由测试程序不当而带来的巨大损失呢?

利用热成像功能

用户可以在每幅图像中检测到数千个测量点并在几秒钟内获得可靠数据,实现产品测试全面的温度监控及时发现故障点。

而在红外热成像领域菲力尔作为独角兽般的存在,在电子产品的测试方面,有先进的热成像实验室解决方案。FLIR A65sc/A35sc红外热像仪,是工业研发实验室的理想工具,可以实现产品测试全面的温度监控,那么,A65sc/A35sc红外热像仪,究竟具备什么样的性能呢

1、高质量成像

A65sc可生成像素为640 x 512,AA35sc可生成像素为320 x 256,不仅如此,都配有45度角以上的镜头,能够拍摄出出色的广角图像,可以放大小型目标,显示小至50 mK的细微温差,实现近距离拍摄热图像并测量温度。

2、实时图像分析

FLIR ResearchIR软件,可以充分发挥红外热像仪的优势,进行高速视频录制与高级热图像分析,让用户快速获得直观的图像结果。

3、长距离快速传输图像

A65sc/A35sc符合GigE Vision标准,在远距离情况下也能够快速传输图像,借助GigE Vision来自不同供应商的硬件和软件,可以在GibE接口中实现无缝协作。

4、支持GenICam协议

A65sc/A35sc支持GenICam协议,无论采用的是哪种接口技术或功能,都可以与任何第三方软件结合使用,实现非接触方式测量温度,可以说A65sc/A35sc红外热像仪是工业研发实验室的理想工具,想要实现产品测试全面的温度监控完全没有问题。

当然,FLIR应用于工业研发实验室的工具,不仅仅于此,还有更多的科研用红外热像仪包括:ETS 320、C2/C3教育套件,A655sc、 A6750sc、T530/T540、T650sc等产品都是适合科研和实验室研究用的热像仪。

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
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