EMI扫描仪定位触控板电路板干扰源测试案例

针对消费电子触控屏电路板时钟、驱动、电源模块在 300kHz~30MHz 易产生电磁骚扰的问题，采用北京海洋兴业自研OI-EASS321EMI扫描仪，通过 “宽频初扫 + 窄带终扫成像” 定位干扰源，为 PCB 优化与 EMC 整改提供依据。

一、测试目的

1、完成 300kHz~30MHz 近场电场扫描，获取触控板干扰频谱；

2、定位 1MHz~5MHz 差模干扰与共模干扰共存的频率与强度；

3、借助 2D/3D 成像实现干扰源精准定位，输出工程化结论。

二、测试依据

GB/T 9254.1-2021《信息技术设备 电磁兼容 发射要求》

CISPR 32:2015《多媒体设备电磁兼容 发射要求》（Class B）

CISPR 16-2-3 无线电骚扰测量方法

IEC 61967-3 集成电路近场辐射测量方法

三、测试系统与被测件

设备名称	型号 / 规格	品牌
EMI扫描仪	OI-EASS321	Oitek
近场电场探头	OI-ICE08	Oitek
频谱分析仪	FPH系列手持式频谱分析仪	Oitek
EMI软件	EMI 扫描分析软件	Oitek
被测对象	消费电子触控屏电路板	-
工作状态	上电、背光点亮、正常触控扫描	-

图 1：OI-EASS321扫描仪

图 2：OI-ICE08近场探头

图 3：触控屏电路板

四、测试方法

采用两步式智能扫描流程，由自研 EMI 软件统一控制：

1、频谱分析（初扫）：300kHz~30MHz 宽频快速扫描，锁定干扰尖峰频点；

2、近场成像（终扫）：针对尖峰频点设置 SPAN 窄带精扫，生成2D/3D辐射成像。

测试参数：探头距 PCB 2mm、步进 2mm、峰值检波、RBW=10kHz、前置放大开启。

图 4：300kHz~30MHz 频谱分析（初扫）干扰频谱图

五、测试结果

1、频谱特征：1MHz以下，频谱信号整体过高，随之逐渐下降，并在1MHz之后出现多个尖峰谐波（差模与共模干扰）。

2、空间定位：2D/3D 成像显示，干扰集中于触控控制器、时钟电路、电源模块、FPC 接口区域，以近场电场辐射、共模噪声为主。

图 5：典型干扰频点 2D 近场电场分布云图

图 6：典型干扰频点 3D 辐射强度立体成像图

图 7：近场成像（终扫）效果图

六、测试结论

1、自研系统频段匹配度高，300kHz~30MHz 测试数据真实有效；

2、触控板 1MHz 以上存在明显 EMI 骚扰，符合消费电子产品特征；

3、两步式扫描精准定位干扰源，可直接支撑 PCB 布局与滤波整改。

七、整改建议

1、1MHz 以上干扰区加装 RC/LC 滤波或串联阻尼电阻；

2、时钟电路包地 + 缩短走线，降低谐波辐射；

3、优化触控驱动回路面积，减少环路天线效应；

4、电源模块增强滤波，改善接地连续性。