广电计量参编FIB专著获评省级规划教材

核心导读

近日，2026 年江苏省普通高等教育本科省级规划教材评选结果正式公布，由广电计量联合南京大学、哈尔滨工业大学、上海交通大学等国内顶尖高校专家团队联合编写的《聚焦离子束：应用与实践》成功入选。作为国内聚焦离子束（FIB）领域系列专著的开篇之作，此次获评不仅是对其教学价值、学术价值与产业实践价值的权威认可，更是广电计量深耕半导体检测领域，推动校企产学研用深度融合、协同创新的标志性成果。

《聚焦离子束：应用与实践》是国内首部FIB领域专业著作，由广电计量与顶尖高校联合编撰。自出版以来便被南京大学、哈尔滨工业大学、上海交通大学等多所高校选定为课程教辅用书，构建了FIB技术从理论原理到实操应用的完整知识体系，填补了国内该领域系统化、实践型专业著作的空白。

以此为起点，广电计量始终作为唯一参编企业单位，持续深化校企产学研用协同机制，联动高校专家团队继续推出《聚焦离子束：失效分析》《聚焦离子束：芯片检测》两部系列专著，形成了覆盖“基础教学—科研攻关—产业应用”的全链条FIB技术知识体系；整套著作深度融合高校的学术理论纵深与广电计量在半导体产业一线的海量实践成果，既为高校人才培养、科研创新提供了权威体系化的教学与研究蓝本，也为芯片失效分等产业核心场景提供了可落地的实操指引，真正实现了“学、研、产、用”的闭环融合，为国内FIB技术的普及、人才梯队建设与产业核心技术突破提供了系统性支撑。

系列专著的持续产出与权威认可，源于广电计量在半导体检测领域深耕多年构建的产学研用一体化核心能力。作为国内半导体集成电路领域技术能力最全面的上市第三方检测机构之一，广电计量打造了一支兼具学术研究能力与产业实践经验的专家团队，由陈振博士、刘辰博士等核心技术骨干领衔，深度联动高校科研团队，成为衔接学术研究与产业应用的核心纽带；硬件平台方面，搭建了行业领先的芯片显微分析技术平台，配备透射电子显微镜（TEM）、赛默飞 Helios G5 系列双束聚焦离子束（DB FIB）等国际顶尖设备，配套专业芯片分析设备 300余套，既为高校科研攻关提供了先进的实验支撑，也为产业端提供了纳米级精度的检测分析服务。

依托产学研用一体化的技术体系，广电计量实现了科研成果与产业需求的高效双向转化，可提供覆盖芯片研发到量产全生命周期、器件级到系统级全维度的检测分析服务，核心能力覆盖3nm及以上制程芯片TEM分析、FIB失效分等关键环节，服务客群涵盖国内头部晶圆厂、芯片设计企业、科研院所等半导体全产业链主体，服务产品覆盖AI高算力芯片、功率器件、车规芯片等核心品类。同时，广电计量拥有工业和信息化部 “面向集成电路、芯片产业的公共服务平台” 等多项国家级、省级平台资质，深度参与半导体领域的技术标准建设、人才培养与产业公共服务，持续推动 FIB 技术的国产化应用与创新突破。