本次测评基于瑞萨RA6E2地奇星开发板,验证其内部 Code Flash 与 Data Flash 的读写功能稳定性与可靠性,测试 Flash 擦除、写入、读取及数据验证的全流程可行性,为后续嵌入式项目存储方案提供参考依据。
摘自优秀创作者-jf_34532509
https://bbs.elecfans.com/jishu_2507323_1_1.html

瑞萨RA6E2-地奇星开发板
测评环境:e² studio + FSP( Flexible Software Package ) + RA6E2地奇星开发板
1、测评概述
硬件与软件环境


核心测评流程
- 初始化 Flash 控制器,配置 FSP 底层驱动;
- 对指定 Flash 块执行擦除操作,验证擦除后空白状态;
- 向 Code Flash 与 Data Flash 写入测试数据;
- 从 Flash 读取数据,通过memcmp函数验证读写一致性;
- 通过 OLED 显示读写状态及数据,直观呈现测试结果。
二、测评原理与代码实现
2.1 Flash 读写核心原理
瑞萨RA6E2的 Code Flash 与 Data Flash 均基于 NOR Flash 架构,遵循"先擦除,后写入"的操作原则:
- 擦除:将指定 Flash 块的所有字节置为0xFF(空白状态);
- 写入:仅能将0xFF位改写为0,无法直接将0改写为1;
- 验证:读取写入后的数据与原始数据对比,一致则代表读写成功。
2.2 FSP库配置
对于IIC引脚的相关配置在之前帖子中讲过了,试用软件IIC主要就是把SCL和SDA引脚配置成GPIO接口,模拟IIC数据的传输即可。本次主要介绍flash相关FSP库的配置。
步骤如下:
通过上述配置就完成了flash的FSP库的配置。
2.3 芯片内部flash Memory结构及地址
通过查阅用户手册,flash memory相关的模块框图如下:
通过上图我们可以知道应用层通过FACI向闪存子系统发起操作请求,FCU解析FACI转发的命令,结合外部信号生成时序控制逻辑,通过Flash sequencer完成操作的资源调度与流程编排。Flash sequencer根据FCU的控制指令对目标存储介质进行擦除-编程操作。
code flash的存储器地址映射如下图:
值得注意的是,每个块对应的内存容量不一样,后续代码编写需要注意,本次使用Block 13块进行操作,从0x0003_8000开始编写。
data flash的存储器地址映射如下:

本次代码编写从起始地址0x0800_0000开始编写。
2.4 关键代码实现
本次测评采用 FSP 标准 API 完成 Flash 操作,核心代码逻辑如下:
本次所有有关flash的代码都在hal_entry.c文件下编写:
1. 对相关地址寄存器的地址进行宏定义
#defineFLASH_CF_BLOCK_21 0x00038000U#defineFLASH_DF_BLOCK_0 0x08000000U#defineFLASH_DATA_BLOCK_SIZE (1024*32)
2. 回调函数实现
volatilebool interrupt_called;volatileflash_event_t flash_event;voidflash_callback(flash_callback_args_t*p_args){ interrupt_called =true; flash_event = p_args->event;}
通过回调函数,Flash操作完成后,主动触发中断然后调用回调函数并置位标志位,主程序只需要等待标志位即可,从而降低CPU资源占用率。
3. 擦除flash
// 擦除Code Flash R_FLASH_HP_Erase(&g_flash0_ctrl,FLASH_CF_BLOCK_21,1);
4. 写入Code Flash
// 写入Code Flash R_FLASH_HP_Write(&g_flash0_ctrl, (uint32_t)test_data, FLASH_CF_BLOCK_21,256);
5. 读取并验证是否写入成功
memcpy(read_data, (uint8_t*)FLASH_CF_BLOCK_21,4);if(memcmp(test_data, read_data,4) ==0){// OLED显示"code flash写入成功"OLED_ShowString(1,1,"code flash: OK");// 显示读取的实际数据for(uint8_ti=0; i<4; i++) OLED_ShowHexNum(2,1+i*3, read_data[i], 2);}else{OLED_ShowString(2,1,"code flash: FAIL");assert(false);}
data flash相关代码和code flash基本一致,因此不在展示。
整体相关实现代码如下:
#include"hal_data.h"#include"oled.h"#include // 仅用于memcpy/memcmp#if(1 == BSP_MULTICORE_PROJECT) && BSP_TZ_SECURE_BUILDbsp_ipc_semaphore_handle_tg_core_start_semaphore = {.semaphore_num =0};#endif// Flash 块地址定义#defineFLASH_CF_BLOCK_21 0x00038000U // Code Flash 21块地址#defineFLASH_DF_BLOCK_0 0x08000000U // Data Flash 0块地址#defineFLASH_DATA_BLOCK_SIZE (1024*32) // Code Flash 块容量(32KB)// Flash 中断回调标志与事件volatilebool interrupt_called;volatileflash_event_t flash_event;/*** [url=home.php?mod=space&uid=2666770]@Brief[/url] Flash 中断回调函数* [url=home.php?mod=space&uid=1902110]@NOTE[/url] 用于感知Flash异步操作(擦除/写入)的完成状态*/voidflash_callback(flash_callback_args_t*p_args){ interrupt_called =true; // 置位操作完成标志 flash_event = p_args->event;// 记录操作结果事件}/*** @brief 主入口函数:实现Code Flash/Data Flash读写验证*/voidhal_entry(void){ fsp_err_terr; uint8_ttest_data[4] = {0x1a,0x24,0x46,0x6a}; // 测试数据(4字节) uint8_tread_data[4] = {0}; // Flash读取数据缓存 // 初始化OLED(可视化验证结果) OLED_Init(); OLED_Clear(); // ========== Code Flash 操作流程 ========== // 1. 打开Flash控制器 err =R_FLASH_HP_Open(&g_flash0_ctrl, &g_flash0_cfg); assert(FSP_SUCCESS == err); // 2. 关闭全局中断,避免Flash操作被干扰 __disable_irq(); // 3. 擦除Code Flash 21块(擦除是写入的前提) R_FLASH_HP_Erase(&g_flash0_ctrl, FLASH_CF_BLOCK_21,1); // 4. 写入测试数据到Code Flash(最小写入单位256字节) R_FLASH_HP_Write(&g_flash0_ctrl, (uint32_t)test_data, FLASH_CF_BLOCK_21,256); // 5. 恢复全局中断 __enable_irq(); // 6. 读取+验证Code Flash数据 memcpy(read_data, (uint8_t*)FLASH_CF_BLOCK_21,4); if(memcmp(test_data, read_data,4) ==0) { // OLED显示Code Flash写入成功 OLED_ShowString(1,1,"code flash: OK"); // 显示读取的实际数据(十六进制) for(uint8_ti=0; i<4; i++) OLED_ShowHexNum(2,1+i*3, read_data[i], 2); } else { OLED_ShowString(2,1,"code flash: FAIL"); assert(false); // 验证失败触发断言,定位错误 } // ========== Data Flash 操作流程 ========== // 1. 重置中断完成标志 interrupt_called = false; // 2. 擦除Data Flash 0块 + 等待中断回调确认完成 R_FLASH_HP_Erase(&g_flash0_ctrl, FLASH_DF_BLOCK_0, 1); while(!interrupt_called); // 3. 写入测试数据到Data Flash(最小写入单位4字节) R_FLASH_HP_Write(&g_flash0_ctrl, (uint32_t)test_data, FLASH_DF_BLOCK_0, 4); // 4. 等待写入操作完成(轮询状态寄存器) flash_status_t status; do{R_FLASH_HP_StatusGet(&g_flash0_ctrl, &status);}while(FLASH_STATUS_BUSY == status); // 5. 读取+验证Data Flash数据 memcpy(read_data, (uint8_t *)FLASH_DF_BLOCK_0, 4); if(memcmp(test_data, read_data, 4) == 0) { // OLED显示Data Flash写入成功 OLED_ShowString(3,1,"data flash: OK"); // 显示读取的实际数据(十六进制) for(uint8_t i=0; i<4; i++) OLED_ShowHexNum(4,1+i*3, read_data[i], 2); } else { OLED_ShowString(4,1,"data flash: FAIL"); assert(false); // 验证失败触发断言,定位错误 } // 多核相关代码(保留以避免编译错误,单核场景可忽略)#if (0 == _RA_CORE) && (1 == BSP_MULTICORE_PROJECT) && !BSP_TZ_NONSECURE_BUILD#if BSP_TZ_SECURE_BUILD R_BSP_IpcSemaphoreTake(&g_core_start_semaphore);#endif R_BSP_SecondaryCoreStart();#if BSP_TZ_SECURE_BUILD while(FSP_ERR_IN_USE == R_BSP_IpcSemaphoreTake(&g_core_start_semaphore)){}#endif#endif#if (1 == _RA_CORE) && (1 == BSP_MULTICORE_PROJECT) && BSP_TZ_SECURE_BUILD R_BSP_IpcSemaphoreGive(&g_core_start_semaphore);#endif#if BSP_TZ_SECURE_BUILD R_BSP_NonSecureEnter();#endif}// 安全相关空函数(保留以避免编译错误)#if BSP_TZ_SECURE_BUILDFSP_CPP_HEADERBSP_CMSE_NONSECURE_ENTRY void template_nonsecure_callable ();BSP_CMSE_NONSECURE_ENTRY void template_nonsecure_callable (){}FSP_CPP_FOOTER#endif
三、测评结果与分析
3.1 功能验证结果

3.2 常见问题与解决方案

四、测评总结与建议
4.1 测评总结
- 瑞萨RA6E2地奇星开发板的Code Flash与Data Flash读写功能稳定可靠,数据验证一致性达 100%,完全满足嵌入式项目的存储需求。
- FSP 驱动封装简洁易用,通过标准化 API 即可完成 Flash 全流程操作,降低了开发门槛。
- Code Flash 适合存储程序固件或大容量静态数据,Data Flash 适合存储小容量频繁更新的参数(如设备配置信息)。
4.2 应用建议
- 存储方案选型
- 大容量、低更新频率数据 → Code Flash;
- 小容量、高更新频率数据 → Data Flash;
- 关键数据建议采用双备份存储,提升可靠性。
- 开发优化建议
- 擦除和写入操作耗时较长,建议在非中断敏感时段执行;
- 频繁写入的场景可引入wear leveling(磨损均衡)算法,延长 Flash 使用寿命;
- 利用 Flash 保护功能,对关键数据块进行写保护,防止误操作。

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【干货分享】瑞萨RA6E2地奇星开发板Flash读写与OLED显示实战



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