ADP8000/7000系列示波器特色功能：深存储，工程测试的“时间放大镜”

特色功能

一

深存储

在高速数字电路设计、汽车电子系统开发及复杂电磁环境测试中，工程师们常常面临一个核心挑战：如何获取较长时间测试波形？示波器在应对此需求时，常常面临两难的困境：若要捕捉长时间的趋势，就必须降低采样率，从而丢失细节；若要看清高频细节，就只能提高采样率观测较短的时间窗口，从而失去全局视野。航天测控公司自研的ADP8000/7000系列高性能数字实时示波器在高采样率下同时具备优异的深存储能力，为科研与工程领域带来更大的观测自由。

ADP8000/7000系列数字实时示波器的深存储功能具备强大的波形时间窗口扩展能力，结合丰富的触发功能，在连续稳定性测试、长时信号采集及分析、包络特性分析等应用中表现出极高的价值。

存储深度与高采样率的动态平衡

ADP8000/7000系列数字实时示波器，可在最高实时采样率下（ADP8000系列示波器最高采样率为20GSa/s，ADP7000系列示波器最高采样率为10GSa/s）支持高达4Gpts的存储深度，可连续长时间记录波形，覆盖多个低频周期；在保持高采样率的同时，通过动态时基调整（如从ns级到ms级）实现波形的长期观测。在高速数字电路（如PCIe、USB、以太网）中，信号频率可达GHz级，但异常规律（如串扰、抖动）可能以低频形式出现（如kHz级周期性干扰），对此ADP8000/7000兼备长时间观测和高采样率能力。

20GSa/s实时采样4Gpts存储深度波形

灵活多变的多通道深存储模式

用户可根据实际需求，选择双通道模式或者四通道模式。在双通道模式下仍支持最高4Gpts/通道的存储深度（ADP7000：2Gpts/通道），四通道模式下支持最高2Gpts/通道（ADP7000：1Gpts/通道）的存储深度。在电机驱动、电源管理等系统中，需同时记录多路信号（如三相电流、电压、温度传感器），ADP8000/7000系列数字实时示波器所具备的多通道深存储能力，能够有效匹配此类需求。

双通道4Gpts、四通道2Gpts波形采集（ADP8000）

优异的信号获取能力

ADP8000/7000系列数字实时示波器的深存储功能，配合边沿、脉宽等丰富的触发功能以及超百万次的波形捕获率，可在长时间连续采集的同时实现对瞬态波形精准捕获。实现长时记录和瞬态捕获能力的完美匹配。

瞬态变化信号捕获

航天测控ADP8000/7000系列数字实时示波器的深存储功能通过延长观测窗口时间和多样化的触发功能，解决了高速信号间歇性故障诊断、多通道协同长时测试等核心难题。它不仅提升了测试效率，更揭示了难以完全掌握的信号规律，是工程师应对复杂系统测试的“时间放大镜”。