技术对比：矢量网络分析仪的去嵌入和端口延伸

AFR和端口延伸有什么区别？实际测试用哪一种方式较好呢？

有些射频微波元件不是同轴的，例如PCB上的SMT元件，或者有的元件是半导体晶圆的一部分。测量这类元件时，用户需要用到测试夹具或晶圆探针。测试时，我们通常先用标准校准件（例如N型或SMA型）在电缆线末端做校准，然后将校准平面“移”到DUT处。

有两种方法：

– 端口延伸（Port Extension)

– 夹具去嵌入 （Fixture De-embedding）

端口延伸（Port Extension）

端口延伸（Port Extension）

这种移动校准平面的方法简单易用。传统上，端口延伸只用电延迟（delay）来标定夹具、探头或适配器的物理长度。现在，很多VNA 在使用端口延伸时允许使用延迟（delay）和损失（loss）补偿。损耗参数可以手动输入，也可以使用自动端口延伸（Auto Port Extension）功能从测量中导出。

自动端口延伸（Auto Port Extension）

提供了一种方便、快速和简单的方法来确定端口延伸所需的延迟（DELAY）和损耗（LOSS）参数。用户可以测量夹具开路（例如，未插入或焊接 DUT ），或短路，或两者兼而有之。

夹具去嵌入（Fixture De-embedding）

这是移动校准平面的方法更准确，因为它消除了测试系统与夹具或探针之间以及夹具或探针与DUT之间的损耗、延迟和失配效应。为了使该过程有效，用户需要计算或测量夹具或探头的S参数。S参数可以使用是德科技先进设计系统（ADS）等电路仿真工具进行建模，也可以从物理测量中获取。而AFR便是客户最喜欢的一种简单易用的方法。Keysight P9370/80B系列模块化网分具有自动夹具移除（AFR）的功能，它可以很容易的测量并获得夹具的S-参数。AFR类似于自动端口延伸，可以使用开路或短路来获得S-参数。当然，它也可以使用直通来代替反射标准，AFR使用先进的时域技术来获得全套S-参数。

总结

AFR配合“去嵌入”得到夹具的S参数，Auto Port Extension配合“端口延伸”得到射频转接头的损耗。去嵌入方法更准确，因为它可以消除损耗、延迟和失配效应；端口延伸更容易使用，但它只消除损耗和延迟效应。