EDS对元素定性分析
高能电子束入射到样品表面部分区域,这部分区域表层中的原子,其壳层(K、L层等)的电子被激发到较高能量的外壳层(L、M层等)或者原子外成为二次电子,该原子处于激发态(高能量),为使系统总能量最低,外层电子跃迁到有空位的内壳层,多余的能量以特征X射线或俄歇电子的形式放出。每个元素的特征X射线能量不同,大小取决于原子中电子的能级跃迁过程中释放出的特征能量△E。只要测得激发出的特征X射线能量,就可以确定对应的元素种类,EDS就是根据这个原理对元素进行定性分析。
EDS元素定量分析
EDS元素定量分析一般采用的是无标样定量,即采用EDS的标准数据库进行定量分析,不需要在分析时测量标样,用特定标样对数据库进行校正。
EDS谱图形成原理
样品被激发出的特征X射线通过EDS探测器的窗口后,照射到半导体(Si)探测器上,Si原子电离后产生电子-空穴对,数量和特征X射线能量E/Kev成正比,
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