立仪光谱共焦技术破解 3C 制造中的 mini LED 与屏幕检测难题

当 3C 制造迈入 “纳米级精度” 新纪元，消费者对屏幕显示效果与设备轻薄化的极致追求，正倒逼制造环节升级 ——0.1 微米级质量控制已成为行业硬性指标。作为国产光谱共焦技术引领者，立仪光谱共焦传感器凭借 A 系列、D 系列、E 系列产品的 50 纳米重复精度及多材质适应性，成为 3C 行业质检环节的 “终极武器”。本期将深入解析其三大经典应用案例，揭秘如何破解精密制造中的检测难题。

案例一：mini LED 点胶扫描 —— 破解透明胶水精密检测难题

在 mini LED 显示技术快速发展的当下，点胶工艺作为保障芯片固定与散热的关键环节，其高度的精准控制直接影响产品性能与可靠性。由于 mini LED 芯片尺寸小、间距密，点胶高度需严格控制在微米级范围，偏差过大会导致芯片贴合不良、散热受阻等问题。

传统测量方式面临诸多挑战：接触式测量易触碰芯片或胶水，造成损坏与污染；普通光学传感器在测量微小胶点时，易受光线反射角度、胶点形状不规则等因素影响，测量精度难以保证。

立仪光谱共焦传感器的出现彻底打破了这一困局。其核心原理是发射宽光谱白光，经色散镜头分解为不同波长的单色光，当照射到胶水表面时，唯有满足共焦条件的光线能通过小孔被光谱仪捕捉。通过对感测光波长的精准计算，可直接换算出传感器与胶水表面的距离，实现胶水厚度的非接触式精密测量。

案例二：手机屏油墨厚度测量 —— 微米级涂层的全流程质量守门人

手机屏幕的油墨涂刷工艺堪称 “微米级的艺术创作”，需经过多次精密涂布工序，单次涂层厚度需严格控制在 50-200μm 区间，且各层平整度误差必须≤±5μm。如此严苛的标准，对检测技术提出了极高要求。

传统检测方式在此遭遇双重困境：接触式测量极易划伤脆弱的涂层表面；普通光学传感器因光能利用率不足 30%，且存在 > 0.1% F.S./°C 的显著温漂，根本无法满足高速生产线的全检需求。

立仪光谱共焦传感器以亚微米级测量精度实现了突破性解决方案。非接触式测量原理从根源上消除了划伤风险，优化的光学设计大幅提升光能利用效率，配合精准的温度补偿算法，完美适配微米级涂层的高速在线检测场景。

从 mini LED 点胶的微米级管控到手机屏油墨的高精度测量，立仪光谱共焦技术以 50 纳米级的重复精度、非接触式的测量优势以及强大的多材质适应性，精准攻克了 3C 制造中的诸多质检难题。在 “纳米级精度” 成为行业标配的当下，立仪正以硬核技术实力，为 3C 制造的高质量发展注入强劲动力，推动国产高端制造向更高精度、更优品质迈进。

审核编辑 黄宇