0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

一文解析电子可靠性工作10大误区

电子工程师 作者:工程师a 2018-05-12 10:10 次阅读
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

司空见惯的经验性的东西,其实我们都很多都是错的,而这一旦用于设计,产品可靠性可想而知。所以说“电路设计器件选型,先论证其不可行性,慎谈可行性;电子设计比拼的不是谁的设计更好,而是谁的设计更少犯错误”。

误区1、产品故障=产品不可靠

产品出现问题,有时候并不是研发的问题,曾经有案例,面向国内中等以上发达地区的设备,因为在国内用的不错,所以出口到了哥伦比亚,但在那里频频故障,故障的原因在于中国中国大陆中等以上发达地区的海拔都比较低,所以高海拔地区,设备的气密性受到了挑战,设备内外压差增大泄露率增加。

项目立项时只考虑了低海拔,所以人家的设计是没问题的,您老总就这样要求的嘛,谁决策了拿这个型号出口哥伦比亚,他才是罪魁祸首,如果管研发的老总参与决策而没提出反对意见,他简直就是最大的罪人,毕竟销售的高管决策不懂技术还是可以原谅的,技术副总的错误则是无能。产品可靠性是“规定的时间、规定的条件下,完成规定功能的能力”。读者一定细细品味这个定义,格物致知,看看谁能格这个定义的时候能达到更多的致知。使用现场的条件常常超过了规定的条件,而这个超出很大可能是隐含的。

误区2、过渡过程=稳态过程

《一条影响着产品可靠性和社会和谐的曲线》介绍很能说明此图的内容。

误区3、降额很容易做到,没啥问题

降额谁都会,如画画,谁都会,但不是谁都能靠画画生存。详细道理可查阅本博客的文章《电子产品的降额设计》,这里仅作一简单总结:

1. 同功能、但不同工艺的器件降额系数不同;

2. 可调器件和定值器件降额系数不同;

3. 负载不同,降额系数不同;

4. 同规格导线在多匝和单匝应用时降额系数不同;

5. 部分参数不可降额;

6. 结温降额不可遗漏

误区4、Ta,器件可放心使用

器件损坏为何常被称之为“烧”?原因就是器件失效大都是热失效,具体注意事项有两点,第一,器件环境温度≠整机环境温度,器件环境受到机箱内其他器件散热的影响,一般器件环境温度比整机环境温度要高。第二,大家能回想到本次演讲开头的第三个问题,详情查阅《器件环境温度与负荷特性曲线的常见错误》

误区5、电子可靠性跟机械、软件专业无关

安装、布线、布局、喷涂的处理都会影响电气性能

电磁兼容、虚焊、散热、振动噪声、腐蚀、接地都和结构有关

软件的防错、判错、纠错、容错处理措施可避免机械和电子缺陷问题

误区6、器件很简单,Datasheet有无无所谓

做设计时一定要拿到所有器件的Datasheet,然后阅读其上的所有图形图表和参数,最后实在设计上和这些曲线建立联系。如下图是二极管的V-I特性曲线,设计时需要谨慎确认该器件在我们电路中的静态工作点。

误区7、可维修性跟我无关

电子产品可靠性工作的目的是什么?是赚钱。赚钱靠什么?开源和节流,开源难,节流易,不要总想着从材料费上省,材料费省了,维修费高了,从早死换成了晚死,早晚还是死,何必呢?莫不如早死早托生。最好的方式就是重视可维修性,省掉这部分费用。这是货真价实的利润。

误区8、制程控制不好是没有好的工艺人员

制程控制不好不仅仅是工艺人员的问题,这是一条价值链的建设过程。设计工程师对器件的要求、采购工程师的厂家选择、检验环节的控制内容应该设计上对器件关键指标的部分、检测方法不应引入元器件的失效机理和损伤、装配环节也不应引入损伤(波峰焊炉温控制,手工焊接台面的防静电处理等)、出厂检验环节应该检查器件参数漂移可能会导致产品故障的部分内容、维修环节不应引入失效。由上可以看出,出现问题哪是区区两位工艺工程师能保证得了的。所以总结出具体的做法是建立一致性,一致性的前提是设计人员提供充分、有主次的技术信息,工艺仅仅是依据设计图纸和设计文件来保障制造可靠性无限逼近于设计可靠性。

误区9、MTBF值与单台具体机器的故障率的关系

MTBF是宏观、统计的概念,单台机器故障是微观、具体的概念。客户最喜欢问一个问题“你这个产品的MTBF值是10000小时,那我买你的这一台是不是10000h内就不会出现问题?”这是一个关公战秦琼谁更厉害的概念,让我说他俩的换算关系,您先告诉我是1km大还是1kg大?

误区10、加强测试就可解决可靠性问题

此问题既然能名列十大误区之一,其定义自然是错误的。总结有三:

1、 有些问题通过模拟测试实验根本测不出来。

2、 测试手段=工程计算+规范审查+模拟试验+电子仿真

3、 通过温度加强试验的结果计算不出对应的低温工作时间;

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • 电子
    +关注

    关注

    32

    文章

    2038

    浏览量

    93830
收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

    评论

    相关推荐
    热点推荐

    导热凝胶的老化机制与可靠性测试方法

    铬锐特实业|东莞厂家|导热凝胶广泛用于电子散热,本文解析其高温氧化、渗油等老化机制,介绍温度对寿命的影响(5-10年),并详解高温存储、双85湿热、热循环等可靠性测试方法,帮助工程师科
    的头像 发表于 03-30 14:53 159次阅读
    导热凝胶的老化机制与<b class='flag-5'>可靠性</b>测试方法

    知识分享-嵌入式系统可靠性模型

    嵌入式系统可靠性设计技术及案例解析1.3嵌入式系统可靠性模型嵌入式系统可靠性模型分为两种:串联结构模型和并联结构模型。在进行嵌入式系统设计时,为了保证部分关键环节的
    的头像 发表于 03-11 16:43 384次阅读
    知识分享-嵌入式系统<b class='flag-5'>可靠性</b>模型

    什么是高可靠性

    满足后续PCBA装配的生产条件,并在特定的工作环境和操作条件下,在定的时期内,可以保持正常运行功能的能力。 二、为什么PCB的高可靠性应当引起重视? 作为各种电子元器件的载体和电路信
    发表于 01-29 14:49

    芯片可靠性面临哪些挑战

    芯片可靠性门研究芯片如何在规定的时间和环境条件下保持正常功能的科学。它关注的核心不是芯片能否工作,而是能在高温、高电压、持续运行等压力下稳定工作多久。随着晶体管尺寸进入纳米级别,芯
    的头像 发表于 01-20 15:32 536次阅读
    芯片<b class='flag-5'>可靠性</b>面临哪些挑战

    如何测试单片机MCU系统的可靠性

    用什么方法来测试单片机系统的可靠性,当个单片机系统设计完成,对于不同的单片机系统产品会有不同的测试项目和方法,但是有些是必须测试的。 下面分享我的些经验: 1、测试单片机软件
    发表于 01-08 07:50

    技术解析 | 离子捕捉剂:提升电子封装可靠性的关键材料与应用选型指南

    电子元器件不断向微型化、高性能和高可靠性发展的背景下,封装材料的稳定性成为决定产品寿命的核心因素之。其中,由封装树脂内部杂质离子引发的“离子迁移”现象,是导致电路腐蚀、短路乃至失效的隐形杀手
    的头像 发表于 12-08 16:01 764次阅读
    技术<b class='flag-5'>解析</b> | 离子捕捉剂:提升<b class='flag-5'>电子</b>封装<b class='flag-5'>可靠性</b>的关键材料与应用选型指南

    集成电路可靠性介绍

    required functions under stated conditions for a specific period of time)。所谓规定的时间般称为寿命(lifetime),基本上集成电路产品的寿命需要达到10年。如果产品各个部分的寿命都可以达到
    的头像 发表于 12-04 09:08 1039次阅读
    集成电路<b class='flag-5'>可靠性</b>介绍

    CDM试验对电子器件可靠性的影响

    电子器件制造和应用中,静电放电(ESD)是个重要的可靠性问题。CDM(带电器件模型)试验是评估电子器件在静电放电环境下的敏感度和可靠性
    的头像 发表于 08-27 14:59 1223次阅读
    CDM试验对<b class='flag-5'>电子</b>器件<b class='flag-5'>可靠性</b>的影响

    电子产品环境可靠性试验介绍

    电子产品环境可靠性试验是指通过模拟各种环境条件(如高低温、湿度、振动、冲击、盐雾等),对电子产品进行测试,以验证其在储存、运输、使用全过程中的环境适应能力和使用可靠性。这种试验是产品质
    的头像 发表于 07-24 15:17 1632次阅读
    <b class='flag-5'>电子</b>产品环境<b class='flag-5'>可靠性</b>试验介绍

    可靠性测试包括哪些测试和设备?

    在当今竞争激烈的市场环境中,产品质量的可靠性成为了企业立足的根本。无论是电子产品、汽车零部件,还是智能家居设备,都需要经过严格的可靠性测试,以确保在各种复杂环境下都能稳定运行,为用户提供可靠
    的头像 发表于 06-03 10:52 1620次阅读
    <b class='flag-5'>可靠性</b>测试包括哪些测试和设备?

    电子元器件可靠性检测项目有哪些?

    电子信息技术飞速发展的今天,从日常使用的智能终端到关乎国计民生的关键设备,电子元器件的可靠性直接决定着整个系统的稳定性与安全。北京沃华慧通测控技术有限公司深耕
    的头像 发表于 05-14 11:44 1125次阅读
    <b class='flag-5'>电子</b>元器件<b class='flag-5'>可靠性</b>检测项目有哪些?

    概伦电子携应用驱动的站式芯片可靠性解决方案亮相ISEDA 2025,赋能设计公司COT平台

    5月10日,概伦电子副总裁刘超博士受邀出席设计自动化领域国际盛会2025 International Symposium of EDA(ISEDA 2025),并发表《应用驱动的
    的头像 发表于 05-13 10:25 1342次阅读
    概伦<b class='flag-5'>电子</b>携应用驱动的<b class='flag-5'>一</b>站式芯片<b class='flag-5'>可靠性</b>解决方案亮相ISEDA 2025,赋能设计公司COT平台

    提供半导体工艺可靠性测试-WLR晶圆可靠性测试

    随着半导体工艺复杂度提升,可靠性要求与测试成本及时间之间的矛盾日益凸显。晶圆级可靠性(Wafer Level Reliability, WLR)技术通过直接在未封装晶圆上施加加速应力,实现快速
    发表于 05-07 20:34

    电机微机控制系统可靠性分析

    长期可靠工作,这问题牵涉到许多有关系统抗干扰设计、故障自诊断、自恢复等有关可靠性的知识和技术。本文着重介绍与可靠性有关的
    发表于 04-29 16:14

    IGBT的应用可靠性与失效分析

    包括器件固有可靠性和使用可靠性。固有可靠性问题包括安全工作区、闩锁效应、雪崩耐量、短路能力及功耗等,使用可靠性问题包括并联均流、软关断、电磁
    的头像 发表于 04-25 09:38 3638次阅读
    IGBT的应用<b class='flag-5'>可靠性</b>与失效分析