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ISO 21498-2:2024标准解析

凌世电磁兼容 来源:凌世电磁兼容 作者:凌世电磁兼容 2025-06-09 16:29 次阅读
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随着电动汽车技术的飞速发展,对高压电路系统及元器件的测试要求也日益严格。高压零部件是电动汽车动力系统的重要组成部分,依据ISO 21498-2标准开发设计的先进测试设备,为高压电性能部件的测试提供了全面解决方案。凌世自主研发的高压电性能测试系统,依据ISO 21498-2开发设计,应用于电动汽车B类电路系统及元器件测试,同时扩展兼容LV 123及VW 80300等车厂标准高压电性能部件的试验要求。

ISO 21498-2 2024版与2021版区别

2024版增加了电源短路测试

2024版在纹波叠加测试时增加了电流限制值,更明确了纹波电流监控要求

2024版取消了电池的高低温阻抗,只明确了50mΩ阻抗要求

2024版在纹波骚扰测试时增加了5V最高等级,在纹波抗扰度时增加了6V最低等级

2024版中,人工电源网络的电容变成可选项

2024版中,对于产生的纹波测试,增加了EMI接收机测试方法

ISO 21498-2 电气性能测试

章节 测试项目描述 测试类型 需要用到设备
6.2 运行电压范围内直流供电变化 性能测试 编程高压电源
6.3 产生的电压斜率 骚扰测试 可编程高压电源,人工网络及其它附件
6.4 电压斜率抗扰度 性能测试 可编程高压电源
6.5 产生的电压纹波 骚扰测试 可编程高压电源,人工网络,及其它附件
6.6 电压纹波抗扰度 性能测试 可编程高压电源,纹波叠加发生器
6.7 过电压 性能测试 可编程高压电源
6.8 欠电压 性能测试 可编程高压电源
6.9 电压偏移 性能测试 可编程高压电源
6.10 产生的抛负载电压 骚扰测试 -----
6.11 抛负载电压抗扰度 性能测试 可编程高压电源

6.2 运行电压范围内直流供电变化

测试目的:考察元器件在运行能力范围内电压改变过程中的性能,模拟实际电池运行状态。

wKgZPGhGm3uAB-WWAAFP1_YYgC8334.pngwKgZO2hGm3uAVqlNAAA8YePwEk8662.pngwKgZPGhGm3uAfeW_AAGsXwU6lC8863.png凌世设备连接示意图

6.3 产生的电压斜率

测试目的:评估产生的电压斜率,证实其在规定的最大速率。

wKgZO2hGm3yANQj-AACWh9KYGHI237.pngwKgZPGhGm3yAH7SoAAA2a8gcGvg252.pngwKgZO2hGm32AEHzRAAHmWDsfbxU547.png凌世设备连接示意图

6.4 电压斜率抗扰度

测试目的:模拟电源输入时元器件的电压斜率变化,并验证其承受能力。

wKgZPGhGm32AY7hEAAEpAbtTCtE287.pngwKgZO2hGm36ASCdsAAA0tYB44Dg559.png

wKgZPGhGm36AazfPAAGsXwU6lC8665.png凌世设备连接示意图

6.5 产生的电压纹波

测试目的:该测试提供了标准的试验配置和试验方法使电压等级B下元器件产生的电压纹波具有可比性,关注10Hz~150kHz频段范围内的电压纹波。

wKgZO2hGm3-AVi1kAACaMMAi9nQ264.pngwKgZPGhGm3-AfxzcAABYCBMDV54968.pngwKgZO2hGm3-AM1erAAHmWDsfbxU222.png凌世设备连接示意图

6.6 电压纹波抗扰度

测试目的:验证在电压等级B下叠加10Hz~150kHz纹波时元器件的稳定运行。

wKgZPGhGm4CASFOpAAB48ftd69M049.pngwKgZO2hGm4CAc4XdAADj0_Sk4uc070.pngwKgZPGhGm4GAfUISAAG3P4ais4M568.png凌世设备连接示意图

6.7 过电压

测试目的:评估元器件在直流电压超过上限运行电压时的承受能力,验证元器件在过压范围内是否具备自我保护及承受能力。

wKgZO2hGm4GATc8rAAE4E7Gle9g890.pngwKgZPGhGm36AazfPAAGsXwU6lC8665.png凌世设备连接示意图

6.8 欠电压

测试目的:评估元器件在直流电压下降至低于下限运行电压时的承受能力,验证被试元器件在欠压情况下是否能够正常运行。

wKgZPGhGm4KARFb8AAENGLDQkLw282.pngwKgZPGhGm4OACEkKAAAz-EwylW0088.pngwKgZPGhGm3uAfeW_AAGsXwU6lC8863.png凌世设备连接示意图

6.9 电压偏移

测试目的:用于评估当高压零部件与接地参之间的绝缘电阻降低时候,高压零部件受试件的接地参考耐用性。此测试考虑到了最糟糕情况,即两条电源线中其中一条与底盘搭接在一起。

wKgZO2hGm4OAcc4DAACwFFH34Ek558.pngwKgZPGhGm4SASZCdAAAxosrXtds016.pngwKgZPGhGm3uAfeW_AAGsXwU6lC8863.png凌世设备连接示意图

6.10 产生的抛负载电压

测试目的:验证电压等级B下的元器件是否有能力在抛负载情况发生时限制过电压。由于在抛负载过程中产生的电压变化率可能会影响连接到B级高压系统的其他部件,电压变化率是本测试的重要的要素,需要记录下来。

wKgZO2hGm4SAOjisAACB-DVhJ0w537.pngwKgZPGhGm4WANu7oAAAiD9DVmOM157.pngwKgZO2hGm4WAdbFKAAGZ76i9ugg690.png凌世设备连接示意图

6.11 抛负载电压抗扰度

测试目的:验证电压等级B下的元器件是否有能力承受由于抛负载带来的过电压和电压快速上升

wKgZPGhGm4aASMZwAADZPjhuEyE447.pngwKgZO2hGm4aAV9QtAABBoAC4TFQ352.png


审核编辑 黄宇

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