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测量电路:晶体振荡器、输出波形、MEMS振荡器

郑淑霞 来源:jf_85200541 作者:jf_85200541 2025-05-09 10:09 次阅读
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深圳鸿合智远|测量电路:晶体振荡器、输出波形、MEMS振荡器

通信、导航、工业控制高精度领域,晶体振荡器(XO)与MEMS振荡器作为时序基准源,其输出波形的稳定性直接决定系统性能。测量电路作为连接振荡器与测试设备的桥梁,需解决两大核心挑战:一是如何从噪声中提取微秒级甚至纳秒级的时序特征;二是如何兼容不同类型振荡器的电气特性差异。今日,深圳鸿合智远小编将分析测量电路-晶体振荡器、输出波形、MEMS振荡器的多个维度,系统阐述针对晶体振荡器、输出波形、MEMS振荡器的测量电路设计策略。

一、测量电路(晶体振荡器)

wKgZO2gdY76AYlC5ABYQhz1QChk452.jpgwKgZPGgdY7-AIzAPAA1NSil9MQo299.jpg

二、测量电路(输出波形)

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三、测量电路(MEMS振荡器)

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总之,从传统晶体振荡器到新兴MEMS器件,测量电路-晶体振荡器、输出波形、MEMS振荡器的技术演进始终与振荡器性能提升同频共振。未来,随着5G-A、6G及量子通信对时序精度的需求逼近飞秒级,测量电路将向更高带宽(>10GHz)、更低噪声(<-170dBc/Hz)及更强智能化(AI驱动)方向突破。对于工程师而言,掌握测量电路设计不仅是技术能力的体现,更是参与定义下一代时序基准标准的关键路径。

审核编辑 黄宇

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