电阻失效分析报告

一、概述

客户反馈一款规格为1206 精度1% 阻值100kΩ的厚膜电阻，在电路板上使用一个月后出现阻值减小，导致采样偏差。为查明原因，需要我司代为对该电阻进行了详细的失效分析。

二、样品信息

电阻规格：1206，1%，100kΩ

样品数量：2件（从同一串联线路拆卸）

三、异常品分析

外观检查

对客户提供的样品进行目视检查，发现产品结构完整，外观无明显异常。

阻值测量

使用LCR电桥在1V电压下测量阻值，结果显示2件样品的阻值均符合规格标准。

高压测试

鉴于客户在负载条件下发现阻值偏低，使用高压绝缘测试仪对产品进行高压测量：

在85V电压下，样品1的阻值明显下降。

当电压升至150V时，样品1的阻值下降更为显著。

样品2在不同电压下的阻值变化不大。

表面处理后测量

对样品进行清洗，并剥离表面保护层后再次测量阻值。结果与未处理前相比无明显差异：低压测量阻值正常，高压测量阻值仍偏低。

修阻线检查

检查修阻线内部，未发现异常的电阻膏残留。如果存在残留，可能在高压下引起漏电现象。

阻抗层成分分析

对阻抗层进行成分分析，未发现成分异常，排除了阻值层表面存在异常物质导致高压下并联现象的可能性。

未使用品测试

从客户提供的未使用品中抽取100件，分别在低压（1V）和高压（85V/150V）条件下进行阻值测试，结果均保持稳定。

四、失效原因分析

综合以上分析，推断导致产品失效的主要原因是电阻体的劣化。厚膜电阻的阻值层由导体（氧化钌）和绝缘体（玻璃釉）混合形成，其导电面积对电阻性能至关重要。若导电面积过小，会导致：

电阻体提前劣化：内部绝缘部分的绝缘性下降。

高压下漏电：在低压环境下不明显，但在高压条件下会导致绝缘体漏电，造成阻值下降。

为验证上述推断，对产品电阻体进行了深入分析：

设计与修阻因素：导电面积过小可能源于设计问题或修阻过程。但从样品的阻抗层观察，长度和宽度均符合行业标准，未见明显异常。

厚度比较：对产品进行侧面切片，与同行其他品牌比较，发现该电阻体的厚度确实偏薄。

五、异常复现试验

对客户提供的未使用品和其他品牌的电阻进行高压老化测试：

测试条件：高压老化100小时。

测试结果：

客户未使用品在老化后出现明显的阻值漂移。

在低压下阻值正常，高压下阻值偏低。

其他品牌产品未出现类似现象。

六、结论

通过上述分析，确定电阻失效的原因是电阻体导电面积过小，导致产品提前劣化，耐高压能力不足。

审核编辑 黄宇