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简单三步!高效预测半导体器件使用寿命

Olivia 来源:jf_25850331 作者:jf_25850331 2024-05-30 10:31 次阅读
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电力电子元器件已经成为现代电子系统中重要的组成部件,同时,元器件的热性能将大大影响整体设备的可靠性。庭田科技提供的POWERTESTER测试平台,在不破坏待测器件的前提下,仅需三步,即可高效安全的测试IGBT、硅和碳化硅MOSFET二极管半导体器件的使用寿命及热可靠性。

第一步:将待测器件与POWERTESTER连接,输入相关参数,校准K系数(温度敏感因子)

第二步:通过测试平台内置的触摸屏电脑,设置待测器件的循环策略,启动设备,进行全自动热瞬态及功率循环测试

第三步:数据分析(支持数据导出,进行结构函数分析、生成热模型等)

审核编辑 黄宇

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