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      PAL-XFEL上的新型软X射线光谱

      jf_64961214 • 来源：jf_64961214 • 作者：jf_64961214 • 2024-05-16 06:35 • 次阅读
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      X 射线自由电子激光器 (XFEL) 的研究设施遍布世界各地，并在过去十年中不断发展。XFEL 背后的技术可以产生从 EUV/软 X 射线到硬 X 射线的更明亮、更高质量的高能辐射。从材料科学到结构生物学，新的和改进的基础物理测量形式将在这些设施中成为可能。

      PAL-XFEL 是韩国的一家设施，于 2017 年向用户开放。除了明亮的 X 射线外，该设施还提供宽度低于 50fs 的小脉冲束。这使得能够以其他技术无法获得的能量测量与材料中的原子和电子相关的动态过程。该设施运行多条光束线，用于硬 X 射线和软 X 射线实验。在其他探测器中，PI-MTE用于软 X 射线散射和光谱光束线，使用大型 2048x2048px 传感器尺寸，可以灵活地将探测器安装在真空中。

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      PI-MTE 用于相干 X 射线衍射成像以及 X 射线吸收光谱实验。在本文中，该设施的研究人员描述了表征光束线上仪器性能的测量结果。例如，研究人员使用圆偏振 X 射线测量 Co/Pt 多层吸收光谱中的磁圆二色性。这些测量使研究人员能够得出有关这种材料的整体铁磁性的结论。

      审核编辑 黄宇

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