PIN硅辐射探测IV曲线测试-电子发烧友网

近日，有客户找到我们需要测PIN的IV特性，客户反馈了解过吉时利2400系列源表测试会出现屏幕无法显示曲线问题，了解客户需求后，为了更好的完成测试，我们及时做出了一套测试方案，去客户现场进行测试，接下来为大家分享PIN硅辐射探测IV曲线的测试案例！

PIN硅辐射探测器是一种用于探测辐射的半导体探测器，它通常由P型硅、I型硅和N型硅层组成。PIN探测器具有高能分辨率和高探测效率的特点，因此在核物理实验、医学成像和辐射监测等领域得到广泛应用。

PIN硅辐射探测器的工作原理是通过辐射粒子在探测器中产生的电子空穿和电子空穴引起的电荷移动来测量辐射能量。当辐射粒子进入探测器时，它会与硅晶格中的原子发生相互作用，产生电子空穿和电子空穴。这些电荷在电场的作用下被分离并收集到探测器的电极上，产生一个电荷脉冲信号。通过测量这个信号的幅度和时间分布，可以确定辐射粒子的能量和入射位置。

为了确定PIN硅辐射探测器的性能，我们首先使用的是吉时利2400源表+kickstart上位机软件进行测试，在测试PIN的IV曲线时，需要将样品放在不透光的环境中，所以在测试时，我们将样品放在了一个密闭的盒子，一键测试就可完成。

吉时利2400源表+kickstart上位机软件

测试中可看到我们采用的是吉时利2400源表+kickstart上位机软件可顺利完成测试。

此次测试我们更推荐使用2450源表进行测试，新款2400图形化系列源表在外观上可直接看出较大的区别，它可实现触屏操作，操作更加简单，在源表屏幕上可以直接显示IV曲线，不需要上位机软件就可直观看到测试结果，操作简单，测试便捷，所以我们更推荐2450系列源表。