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多功能测试探针电路原理图

CHANBAEK 来源:circuit-diagramz 作者:circuit-diagramz 2023-12-13 18:21 次阅读

两个 IC 的多功能性:

该电路仅包含两个集成电路 (IC),通过执行三种不同的测试功能(可通过开关 S1 选择)来展示多功能性。 IC1a-1c 以时钟发生器中心,生成频率为 3 Hz 的矩形信号。在开关 S1 的位置 A,T1 利用时钟信号为探头供电

该缓冲级可通过限流电阻 R7 提供高达 100 mA 的电流。实际上,这允许探头将 3 Hz 信号注入任何数字电路,从而有效地覆盖所有逻辑输出。短路的检测变得更快,因为只有此类异常才会导致信号消失。

然而,必须注意的是,这种方法代表了一种基本测试,同时短路连接到被检查轨道的所有输出,而制造商通常允许一次仅针对一个输出发生这种情况。

逻辑电平检测:

当开关 S1 设置到位置 B 时,测试仪转换为检测逻辑电平。当探头未连接时,IC1d 输入端出现 3 Hz 时钟,导致 DI 有节奏地闪烁。

当向探头施加逻辑电平时,它会抑制时钟;如果电平低,LED 熄灭,如果电平高,LED 保持常亮。

该 IC 的开关阈值约为电源电压的 1/3 至 2/3,因此适用于 CMOS 4000 系列和 HCT 系列。虽然标准 TTL、LS 和 HCT IC 是兼容的,但值得注意的是,阈值对于这些变化可能不是最佳的。

多功能测试探头示意图

高频信号兼容性:

该测试仪设计用于有效处理频率范围为 30 至 40 MHz 的输入信号。当开关S1设置到位置C时,输入信号被引导至移位寄存器IC2的时钟输入。

在探头上的八个时钟脉冲之后,IC2 输入 A 和 B 处的持续高电平到达 OH 输出,点亮 LED D2。由于 3 Hz 信号不断重置 IC2,只要探头上存在时钟(假设其频率超过 25 MHz),LED 就会闪烁。

当两个 LED 闪烁时,整个电路消耗 10 mA 的电流。必须确保电源能够提供 100 mA 左右的电流,以保证脉冲发生器的良好运行。

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