忆阻器基础研究测试

忆阻器是一种具有电荷记忆功能的非线性电阻，通过控制电流的变化可改变其阻值，自从2008年HP公司制备出了忆阻器，科学家们意识到忆阻器的优势和作用，所以现在也有很多院所开始进行忆阻器的研究

忆阻器研究分为基础性能研究测试，神经突触/神经元测试以及阵列测试，今天主要介绍一下基础研究测试

基础研究分为四步，分别是Forming 前后特性验证、直流特性测试、交流特性测试、脉冲特性测试;

忆阻器直流特性测试通常与 Forming 结合，主要测试忆阻器直流 V-I 曲线，并以此推算 SET/ RESET 电压 / 电流、HRS、LRS 等忆阻器重要 参数，可以进行单向扫描或双向扫描。

忆阻器交流特性主要进行捏滞回线的测试，捏滞 回线是鉴别忆阻器类型的关键.

忆阻器脉冲测试能有效地减小直流测试积累的焦 耳热的影响，同时，也可以用来研究热量对器件 性能的影响。由于忆阻器表征技术正向极端化发 展，皮秒级脉冲擦写及信号捕捉的需求日益强烈。

如果要进行基础测试需要的仪器有：信号发生器，源表，电源以及示波器

审核编辑 黄宇