如何用纳米软件半导体老化测试系统测试芯片老化？

芯片老化测试的目的是为了评估芯片长期在各种环境下工作的寿命、性能及可靠性，以确保芯片及系统的工作稳定性。往期我们分享了芯片老化测试的内容及注意事项，今天我们将分享如何用纳米软件半导体老化测试系统测试芯片老化。

芯片老化测试的设计

在进行老化测试前应该制定好测试计划和流程，制定好测试条件、参数等。

1. 选择合适的测试负载

根据芯片的应用场景和预期使用条件，选择好测试负载，包括电压、频率、温度等参数。

2. 设计测试持续时间

老化测试的持续时间一般根据芯片的预期使用寿命和应用场景确定，数小时至数千小时不等。

3. 确定测试环境

测试环境包括温度、湿度等环境条件，模拟实际使用中的环境条件。

4. 制定测试计划

根据测试需求和时间限制，制定详细的测试计划，包括测试开始时间、持续时间、测试参数等。

ATECLOUD-IC芯片测试系统

ATECLOUD-IC芯片测试系统进行老化测试

ATECLOUD-IC是专门针对于各类芯片、半导体器件、分立器件等测试的自动化测试系统，采取软硬件结构，满足芯片测试指标，提供整体解决方案。用ATECLOUD-IC进行芯片老化测试的方法如下：

1. 连接测试设备

将待测产品与计算机、纳米BOX(一种边缘计算设备)连接，确保可以传输通信。

2. 搭建测试项目，设置测试参数

在项目维护界面中选择仪器型号，拖拽测试指令搭建测试流程，并根据要求设置相应的测试参数，如测试持续时间、电压、频率、温度等。

3. 运行测试

在方案运行界面点击“运行”开始芯片老化测试，启动芯片老化试验。系统会以指标形式反馈测试结果。

4. 监测记录数据、数据分析

该系统有数据洞察功能，会采集、汇总、管理所测数据，并对测试数据进行分析和处理。数据分析支持图表形式展示，方便观测数据，如折线图、柱状图、饼状图等。用户还可以自定义数据报告，选择数据模板，生成导出报告。

审核编辑 黄宇