联讯rBT2250突发误码仪
随着10G PON网络部署和实施,下一代50G PON网络的标准也已经完善:2018年,ITU/FSAN启动了基于单波长50G PON标准的制定工作,命名为G.HSP(G.Higher Speed PON)。2019年,50G PON的总体需求G.9804.1发布,明确了单波长TDM PON架构,以及上下行速率组合,此外,50G PON需要满足与10G PON以及存量ODN的共存平滑演进。2021年,ITU-T 50G PON系列标准正式发布,系列标准包括:总体需求标准修订G.9804.1 AMD1、通用协议层标准G.9804.2,以及物理层标G.9804.3。为了满足下一代50G PON测试需求,联讯仪器推出了rBT2250,专门针对下一代25G/50G PON光线路终端(OLT)测试的新型突发误码分析仪。
50GPON应用场景
50G PON是接入网能力的全面提升,实现了大带宽、低时延保障和通道化能力的全面提升,面向多应用场景。

图2 50G PON 全场景
50G PON采用单纤双向传输,下行TDM时分复用,上行TDMA时分多址接入,实现OLT和ONU之间的点到多点通信,在PON系统中,光网络单元ONU通过光纤和耦合器共享一个光线路终端OLT,上行数据的传输采用时分复用的方式共享上行信道,对于发射上行数据的光发射机来说,它发射的是突发包信号。目前因为受到核心芯片及器件的限制,50G PON目前阶段还是以非对称:下行50G连续/上行25G突发为主。

图3 50G PON 架构
50GPON测试挑战
因传输路径不同,各数据包有不同衰减,数据包中存在长连“1”、“0”,这些因素的影响使得OLT突发接收模块接收的信号是特殊的突发光信号。

图4 不同幅度ONU信号
ONU 上行突发信号:
需要有和数据同步的使能控制信号;
需要能发送前导码+PRBS数据的具有时序的数据包(帧结构);
→需要具有突发数据和同步使能控制信号的误码仪

图5 突发误码仪双突发测试
对于上行的突发信号,OLT接收模块不仅要从不同功率衰减ONU1和ONU2突发信号中,迅速恢复出幅值相等的信号,而且要消除不同ONU的相位突变,即完成时钟和相位的对齐,因此OLT输出的信号应该为幅值相等且时钟和相位对齐的电信号,双突发测试可以模拟两路不同衰减的ONU传输测试。
→需要突发误码仪在突发模式才能验证OLT接收机的性能,连续模式误码分析仪诊断不出来有问题的OLT
rBT2250突发误码仪
针对上述测试需求,联讯仪器rBT2250提供2个独立的突发码型发生器和误码探测器通道,支持连续模式或突发模式误码分析,具有两路突发时分码型序列产生和误码分析能力。码型时序灵活可调,并针对器件测试需求,给相应测试通道提供同步的激光器使能、复位信号等低速控制通道。而且rBT2250内置时钟恢复,可以自动测距,对长纤测试毫无问题。从而大大简化测试设置、连接、占地空间以及测试成本。

图6 rBT2250 软件主测试界面
产品特点


图7 联讯仪器 25G OLT整体测试方案
OLT 整体测试方案中,rBT2250突发误码仪同时支持2路突发信号,模拟2个ONU的双包突发测试,50G 光采样示波器支持OLT TX端连续模式光眼图测试。
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