浅谈IC测试座及探针作用

测试插座的主要起着一个连接导通的作用，用于集成电路应用功能验证。它是PCB与IC之间的静态连接器，可以让芯片的更换测试更方便，不用一直重复焊接和取下芯片，从而减少IC与PCB的损伤，以及达到快速高效的测试效果。

也许听起来比较复杂，简而言之它就是一个符合芯片测试要求的精密转接头。

今天凯智通小编就带大家一起了解下，这个小小的转接头到底精密在哪里？

我们将测试插座拆解开来，会发现它大致五个部分组成。

第一部分：芯片和芯片测试座引脚接触的部分；

第二部分：接触介质部分的结构；

第三部分：引脚引出部分；

第四部分：测试座的外部固定结构；

第五部分：材料部分，接触介质和外部结构的材料符合此款芯片的测试要求。

测试探针，是半导体测试中，最常见且十分重要的冶具。

探针结构也是采用铍铜，根据实际的测试要求表面镀层，一般应用于BGA，QFN等，探针直上直下的结构，能在原有测试主板的结构上进行机械结构的组合，在测试芯片的同时，还原测试版的原有功能。

主要用于手机等电子产品中，起连接作用。探针有锡球测试:指测试带有完整锡球的IC芯片，采用爪头探针，直接与锡球接触;无锡球测试:指测试没有锡球的Ic芯片，采用尖头探针，直接与 PAD 接触;

凯智通测试探针

探针的内部具有弹性结构，其针头的仿形使其匹配不同的需求，能够增加接触面与接触稳定性，从而降低接触阻抗，辅助测试更好地进行。

随着我国半导体事业的发展，国产探针需求逐年递增，探针行业处于高速发展阶段！

可过电流值可达3A，可过频率值：20GHz，电阻值:60mΩ，测试寿命高达10万次！

审核编辑：汤梓红