在线讲座|​无缝触及-高速测量环境中仪器与被测件的正确连接（6月28日）

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2023高速接口发展

与技术论坛

产品从开发到最后的验证，每一个阶段都会面临回溯的要求，从而能够快速发现和解决我们在产品设计中遇到的问题，但在这个过程中，因为这样或那样的原因，往往会忽略测试点的问题，从而无法实现问题的回溯。如何在研发的每个阶段设置测试点，是研发周期的一项重要任务。

同时，在产品的开发周期中会面临不同的场景，包括芯片的测试验证，封装完之后的器件验证，传输通道的验证，接口一致性验证等等，在这些不同的场景中，需要不同的连接方法，如何确保连接的正确性以及去除影响连接的因素，本次论坛讲座将从细节出发，基于常见的测试验证场景，分享测试仪表与被测件无缝触及的经验。

线上讲座概要

演讲主题

■ 高速测试场景中的仪表连接挑战

■不同环境测试连接考量 - 芯片、传输线(PCB)、接口等

■ 测试连接中的那些事：共性问题分享

演讲嘉宾

奚斌宏（罗森伯格 测试测量产品经理）

宋新洋（中科睿华 技术部经理）

杨东亮（安立公司 高级工程师）

郭峰（泰克科技 高级应用工程师）

时间与地点

时间：2023年6月28日（周三）14:00~16:00

14:00—15:30演讲环节

15:30—16:00问答环节

（听讲并填写问卷有机会获得精美礼品）

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原文标题：在线讲座|​无缝触及-高速测量环境中仪器与被测件的正确连接（6月28日）

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