随着高速光通信发展,光器件种类多、迭代快,对测量仪要求更高。而在新兴平面光波导和硅光芯片领域,其对仪表测量的精确性、稳定性和操作便利性等各方面提出了前所未有的挑战,由此昊衡科技,发布了国产多功能光矢量分析仪(OCI-V)。近年昊衡科技不断吸纳市场反馈意见,专注设备创新升级,优化设备性能,致力于给客户提供更优质的产品。
昊衡科技作为国产光矢量分析仪制造商,现推出损耗80dB高动态范围测试选项。

图1.60dB动态范围

图2.80dB动态范围
OCI-V是一款快速检测光学器件损耗、色散和偏振等相关参数的光矢量分析系统。其原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描,并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵,进而获得器件插损、色散、偏振相关损耗、偏振模色散等光学参数。该系统采用独特光路设计以及先进算法,实现智能校准,操作简单,极大节省测试时间。
产品应用
平面波导器件、硅光器件、光纤器件、波长可调器件、放大器、滤波器
你可能想了解
偏振相关损耗PDL、偏振模色散PMD、插损IL、群延时GD、色散CD、琼斯矩阵参数、光学相位
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