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高压放大器基于干涉仪的设计与优化中的应用

Aigtek安泰电子 2022-01-07 15:10 次阅读
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实验名称:

高压放大器基于扫描式固体腔F-P干涉仪的设计与优化中的应用

测试设备:

光源,准直扩束系统,待测电光晶体(包含驱动),4f系统和CCD,信号源,ATA-2161高压放大器,示波器等。

实验内容:

为实现全天时边界层内大气温度绝对探测,即精细获取大气Rayleigh散射谱形,借鉴F-P干涉滤波技术和晶体的电光特性,设计了一种扫描式固体腔F-P干涉仪,测试其滤波性能并进行优化。

实验过程:

如图是搭建的透射型马赫曾德干涉仪光路,此光路用做全息图的记录,主要包括以下几个部分:光源,准直扩束系统,待测电光晶体(包含驱动),4f系统和CCD。电光晶体高压驱动,函数发生器,使其产生一个脉冲方波信号,然后经过ATA-2161高压放大器使其放大,最终把放大后的信号加载到晶体上,完成晶体电光性能的测试。

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测量晶体内部均匀性和折射率调制度关系的系统图

实验结果:

01

不同电压下CCD上记录的全息图;

c3e42dd8-6e27-11ec-86cf-dac502259ad0.png

02

不同电压场下,对应晶体折射率的改变量。

对图相位图中晶体相位的改变量进行平均处理,得到不同电压场下,对应的晶体的相位改变量,再由公式计算得出,不同电压场下,对应晶体折射率的改变量。

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高压放大器ATA-2161参数指标:

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更多放大器应用案例:

功率放大器在钢板表面缺陷及交流漏磁测试中的应用

功率放大器在水下主动电场物体形状成像中的应用

功率放大器在电感式传感器金属颗粒材质识别中的应用

注:此实验案例参考至知网论文《扫描式固体腔F-P干涉仪的设计与优化》

关于安泰电子

西安安泰电子科技有限公司(Aigtek)是国内领先从事测量仪器研发、生产和销售的高科技企业。公司致力于功率放大器、计量校准产品、线束测试仪等产品为核心的相关行业测试解决方案的研发和生产。提供免费样机试用,免费专业工程师培训,免费测试技术交流。

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