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昊衡科技OLI用于光器件微裂纹检测

cctw7788993 来源:昊衡科技 2023-05-23 10:39 次阅读

OLI是一款低成本高精度光学链路诊断系统。其原理基于光学相干检测技术,利用白光的低相干性可实现光纤链路或光学器件的微损伤检测。通过读取最终干涉曲线的峰值大小,精确测量整个扫描范围内的回波损耗, 进而判断此测量范围内链路的性能。

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图1.OLI低成本光学链路诊断仪

本次测试使用了探测深度为-90dB的OLI光纤微裂纹检测仪。图2为待光测器件,该器件为MPO接头,器件内部有微裂纹如图3所示,漏光位置为裂纹点。

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图2.待测光器件

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图3.光器件内部裂纹

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图4.OLI测试结果

将该器件接入OLI光纤微裂纹检测仪进行测试,测试结果如图4所示。本次测试检测出光器件MPO端面对接处的反射、光器件内部微裂纹和其余光链路。OLl光纤微裂纹检测仪的高精度探测能力,可以实现对于微小裂纹的高精度检测和定位,为光学器件的生产和检测提供了有效保障。

审核编辑:汤梓红

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
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原文标题:昊衡科技-OLI用于光器件微裂纹检测

文章出处:【微信号:Mega-Sense,微信公众号:昊衡科技】欢迎添加关注!文章转载请注明出处。

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