0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

中华精测推DDI专用MEMS探针卡,进军面板驱动IC测试市场

MEMS 来源:MEMS 2023-05-04 09:39 次阅读

中华精测4月27日召开2023年第1季营运说明会,会议中总经理黄水可宣布,自本月起,正式进军面板驱动IC测试市场,新推出的DDI专用MEMS探针卡,将搭配“一卡抵双卡”服务、提供单日完成保固维修,让面板驱动IC业者一改过去为提升传统探针卡测试效率必须加购备卡的旧习。

随着面板显示技术持续演进,近年来,大尺寸电视面板达到8K超高解析度影像沉浸式视野技术 、中尺寸面板强调超高刷新率240Hz电竞级影像体验、10吋以下的中小尺寸最高解析度柔性MicroLED面板呈现出清晰流畅的动态影像,而且转移至LTPS柔性背板后仍可呈现高动态对比及高饱和色彩,另外,智慧医疗及车载工规等级的3D影像高画质转换技术,显见影像正进入高速传输时代。

中华精测指出,面板整合型驱动芯片(DDI)正是扮演快速点亮面板、完美呈现出最新影像状态的关键角色,有鉴于此,虽目前半导体产业正逢库存调整阶段,但驱动IC业者无不在此时积极展开高速传输布局,为产业下一波成长预备能量。

中华精测说明,传统探针卡受到物理极限影响,在量测高速讯号时容易故障、中断测试进程,而MEMS探针卡则在高速量测上占有先天优势。

中华精测强调,公司具备All-In-House的技术能力,成功推出自制MEMS探针卡,量测高速高频芯片的稳定度已获得多项应用芯片的成功实证,包括手机应用处理器(AP) 、高效能运算(HPC)、电脑应用处理器 (CPU)、绘图运算处理器(GPU)、快闪存储器控制芯片(NAND Flash Controller)等定制化芯片。

中华精测看好,本月推出的DDI自制MEMS探针卡具备量测4Gbp/s的技术水准,未来将携手面板驱动IC芯片业者共同突破高速传输的量测瓶颈,助力影像显示器达到高速传输影像信号的低延迟视野感受。

中华精测认为,短期之内,因应景气不明朗的高度变化,面板驱动IC业者正面临终端透过短单、急单调整库存兼顾下一代技术布局,为能助力面板驱动IC芯片客户可即时、快速完成芯片测试以抢得急单商机,公司提供单日完成保固维修服务,让IC客户可因此减免购买备卡费用,期待借由“一卡抵双卡”服务与客户共同走过景气谷底、迎接产业景气曙光。

审核编辑 :李倩

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • mems
    +关注

    关注

    128

    文章

    3738

    浏览量

    188754
  • 面板
    +关注

    关注

    13

    文章

    1603

    浏览量

    53429
  • 驱动芯片
    +关注

    关注

    12

    文章

    1092

    浏览量

    53646

原文标题:中华精测推DDI专用MEMS探针卡,进军面板驱动IC测试市场

文章出处:【微信号:MEMSensor,微信公众号:MEMS】欢迎添加关注!文章转载请注明出处。

收藏 人收藏

    评论

    相关推荐

    电路板测试探针间距

    探针间距是指在电路板测试过程中,探针之间的中心到中心距离。在理想情况下,电路板应使用行业标准的100mil弹簧探针进行测试
    的头像 发表于 04-26 16:07 91次阅读
    电路板<b class='flag-5'>测试</b>之<b class='flag-5'>探针</b>间距

    新款iPad Pro采用OLED显示屏及三星显示驱动IC

    网站消息指出,11英寸及12.9英寸iPad Pro新品的独家显示驱动ICDDI) 供应商将定为三星System LSI。此外,配备LG显示OLED屏的iPad机型亦将运用三星的DDI
    的头像 发表于 03-18 15:56 158次阅读

    探针测试台工作原理 探针测试台为嘛测试会偏大?

    探针测试台是一种用于测试集成电路(IC)的设备,工作原理是将待测试IC芯片安装在
    的头像 发表于 02-04 15:14 554次阅读

    和林微纳:线针、MEMS晶圆测试探针均进入部分客户验证环节

    据传感器专家网获悉,近日,和林微纳在接受机构调研时表示,线针、MEMS晶圆测试探针均进入部分客户验证环节。 和林微纳进一步称,半导体探针业务受行业及经济环境等综合影响,营业收入较往年有较大的变化
    的头像 发表于 11-16 08:38 293次阅读

    浅谈IC测试座及探针作用

    测试插座的主要起着一个连接导通的作用,用于集成电路应用功能验证。它是PCB与IC之间的静态连接器,可以让芯片的更换测试更方便,不用一直重复焊接和取下芯片,从而减少IC与PCB的损伤,以
    的头像 发表于 07-11 10:11 520次阅读
    浅谈<b class='flag-5'>IC</b><b class='flag-5'>测试</b>座及<b class='flag-5'>探针</b>作用

    带你了解IC测试座及探针作用!

    芯片测试座又称:IC Socket 、 IC 测试座、IC插座。
    的头像 发表于 07-08 15:13 1585次阅读
    带你了解<b class='flag-5'>IC</b><b class='flag-5'>测试</b>座及<b class='flag-5'>探针</b>作用!

    ic测试座是芯片测试必不可少的专用测试工具

    IC测试座是一种专门用于测试集成电路(IC)的工具,也被称为IC插座或者IC
    的头像 发表于 06-19 15:07 646次阅读
    <b class='flag-5'>ic</b><b class='flag-5'>测试</b>座是芯片<b class='flag-5'>测试</b>必不可少的<b class='flag-5'>专用</b><b class='flag-5'>测试</b>工具

    高性能、高效率!加速科技LCD Driver 测试机Flex10K-L 强势出圈

    全球消费电子终端需求增长以及物联网的兴起,为面板产业及DDI芯片市场带来持续的成长动能。随着应用终端在面板超高清、高流畅度、高色彩饱和度等方面的多元化消费需求与日俱增。显示
    的头像 发表于 06-16 09:45 326次阅读
    高性能、高效率!加速科技LCD Driver <b class='flag-5'>测试</b>机Flex10K-L 强势出圈

    浙江微针半导体官宣2D MEMS探针卡已成功实现量产

    近日,浙江微针半导体有限公司宣布,其2D CMOS图像传感器(CIS)MEMS探针卡产品已成功交付给国内头部CIS公司,公司2D MEMS探针卡进入量产阶段!
    发表于 06-02 16:42 675次阅读

    探针台的功能有哪些

    。适用于对芯片进行科研分析,抽查测试等用途。探针台的功能都有哪些?1.集成电路失效分析2.晶圆可靠性认证3.元器件特性量测4.塑性过程测试(材料特性分析)5.制程监控6.IC封装阶段打
    发表于 05-31 10:29

    LTCC/HTCC基板在晶圆测试探针卡中的应用

    在半导体产业的制造流程上,主要可分成IC设计、晶圆制程、晶圆测试及晶圆封装四大步骤。 其中所谓的晶圆测试,就是对晶圆上的每颗晶粒进行电性特性检测,以检测和淘汰晶圆上的不合格晶粒。 下面我们一起来了解一下半导体晶圆
    的头像 发表于 05-26 10:56 789次阅读
    LTCC/HTCC基板在晶圆<b class='flag-5'>测试探针</b>卡中的应用

    基于微悬臂梁的MEMS探针中与倾斜相关定位误差的量化和校正

    就微型探针而言,已经研究了避免误差的自动定位技术。量化并控制倾斜误差,对于利用微悬臂梁优化自动化探针测试至关重要。然而,后者的研究还没有考量潜在的微型MEMS
    的头像 发表于 05-17 09:51 563次阅读
    基于微悬臂梁的<b class='flag-5'>MEMS</b><b class='flag-5'>探针</b>中与倾斜相关定位误差的量化和校正

    晶圆测试设备的指尖—探针

    晶圆测试的方式主要是通过测试机和探针台的联动,在测试过程中,测试机台并不能直接对待测晶圆进行量测,而是透过
    的头像 发表于 05-11 14:35 2690次阅读
    晶圆<b class='flag-5'>测试</b>设备的指尖—<b class='flag-5'>探针</b>卡

    晶圆测试设备的“指尖”——探针

    探针卡是半导体晶圆测试过程中需要使用的重要零部件,被认为是测试设备的“指尖”。由于每一种芯片的引脚排列、尺寸、间距变化、频率变化、测试电流、测试
    的头像 发表于 05-08 10:38 3853次阅读
    晶圆<b class='flag-5'>测试</b>设备的“指尖”——<b class='flag-5'>探针</b>卡

    半导体晶圆测试探针卡与LTCC/HTCC的联系

    晶圆测试的方式主要是通过测试机和探针台的联动,在测试过程中,测试机台并不能直接对待测晶圆进行量测,而是透过
    发表于 05-08 10:36 958次阅读
    半导体晶圆<b class='flag-5'>测试</b>的<b class='flag-5'>探针</b>卡与LTCC/HTCC的联系