0
  • 聊天消息
  • 系统消息
  • 评论与回复
登录后你可以
  • 下载海量资料
  • 学习在线课程
  • 观看技术视频
  • 写文章/发帖/加入社区
会员中心
创作中心

完善资料让更多小伙伴认识你,还能领取20积分哦,立即完善>

3天内不再提示

是德科技Solution Talks宽禁带半导体(WBG)双脉冲测试方案

是德科技快讯 来源:是德科技快讯 2023-03-26 10:03 次阅读
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

在亿万斯年的历史长河中,提出问题与解决问题一直是推动人类文明进步的主要动力。作为太阳系唯一的文明,人类不断运用智慧解决各种难题,从电、电话、无线电到计算机、半导体、汽车、新能源车、航天飞船、人工智能等的发明,这些都彻底改变了人类的世界。而未来的世界中,还将会有更多未知的挑战等待人类去探索和解决。

是德科技为您带来最新的“Solution Talks”,旨在帮助您快速实现创新的解决方案,以加速创新,连接世界并确保安全的领先。我们的话题覆盖无线通信(包含5G、6G)、汽车与能源、高速计算和光通信、半导体、医疗等行业的测试场景。

如果您未找到遇到的测试挑战,告诉我们您想了解的测试问题,是德科技专家将会联系您,并提供全方位的测试解决方案。

总结

•鉴于其高电压特性和快速开关速度,动态特性的表征在评估宽禁带半导体(WBG)器件时变得至关重要。

•JEDEC持续将WBG半导体的动态测试定义为GaN JC-70.1和SiC JC-70.2,并且更多标准化测试正在出现,包括开启、关断、开关、反向恢复、栅电荷以及其他测试。

•Keysight提供符合JEDEC标准的WBG半导体简单、可靠、可重复的测量解决方案。

场景和趋势

第三代半导体是指使用新的材料和器件结构制造的半导体器件,如碳化硅(SiC)和氮化镓(GaN)等。相较于传统的硅同类材料,WBG半导体使得器件能够在更高的温度、电压和频率下工作,因此这些材料制成的电力电子模块比使用传统半导体材料制成的模块更加稳定和节能。

鉴于第三代半导体因其优异的性能,在半导体照明、新一代移动通信、新能源并网、智能电网、高速轨道交通、新能源汽车、消费类电子等领域拥有广泛的应用前景。第三代半导体材料具有高击穿电场、高热导率、高电子饱和速率及抗强辐射能力等优异性能,是固态光源和电力电子、微波射频器件的“核芯”,正在成为全球半导体产业新的战略高地。

需求和痛点

宽禁带半导体(WBG)作为一项革命性的材料,能够提供更高的速度、更高的电压和更高的热操作能力,从而提高效率,减少尺寸和成本。然而,这也带来了新的挑战,半导体制造商和工程师在表征宽禁带半导体遇到了一些困难。对于传统硅基的大功率半导体应用,通过测试静态参数是可以评估芯片和器件性能,因为它们的开关速率较慢。然而,对于宽禁带半导体,测试静态和动态参数都是重要的。宽禁带半导体的更高开关速率会在开关瞬态过程中会造成损失。

JEDEC是全球领先的微电子行业标准化组织,它将WBG半导体的动态测试定义为GaN JC-70.1和SiC JC-70.2。随着JEDEC标准的发展,测试WBG半导体已经成为一项复杂的任务,更多的测试涌现出来。第三代半导体需要对应不同的测试需求,不仅要测量击穿电压、工作电流、导通电阻、IV、CV曲线等静态参数,还需要对开关时间、损耗能量、动态导通电阻等参数进行完全表征。因此,WBG器件制造商和测试机构需要一种全面的解决方案,可以重复、可靠、安全地测试动态参数。

解决方案

Keysight PD1500A动态功率器件分析仪/双脉冲测试仪是一个全方位针对分立器件的测试解决方案。双脉冲测试(DPT)系统可以帮助您实现可靠、可重复的功率半导体器件动态测试结果。PD1500A 解决方案可以运行全自动化测试,其中包括开关特性、栅极电荷和反向恢复,PD1500A 采用的均是标准的测量技术,例如探头补偿、增益/偏置调整、偏移校正和共模噪声抑制。此外,通过积极参与制定GaN JC-70.1和SiC JC-70.2标准,Keysight PD1500A可提供符合JEDEC规范的可靠、重复的宽带隙半导体测量结果。

PD1500A双脉冲测试系统助力表征WBG半导体

是德科技PD1500A动态功率器件分析仪能够提供1200V、200A的漏极测试电压电流,提供-28V到+28V的栅极驱动电压,适应不同规格器件的测量;高电流shunt,具备400MHz的电流测试带宽,能够捕捉ns级别的快速开关边沿;我们专门开发了半自动校准例程 (AutoCal),用于校正系统增益和偏置误差。针对测量电流时所出现的不一致性,系统还使用先进技术加以补偿,保证测量精度和重复性。

Keysight PD1500A DPT 可以测量功率半导体器件的动态参数,包括:

•开启参数(td(on),tr,ton,e(on))

•关断参数(td(off), tf, toff, e(off))

•反向恢复参数(trr, Qrr, Err, Irr, Id-t)

•栅电荷(Qgs(th), Qgs(pl), Qgd)

•开关过程曲线(Id-t, Vds-t, Vgs-t, Ig-t, Clamped Vds-t, e-t)

•动态导通电阻(RDSon)

•高功率IV曲线(Id-Vg, Id-Vd)

PD1550A高级动态功率模块分析仪测试方案

PD1550A的功能在PD1500A的基础上进行了扩展,为测试高达1360 V和1000 A 的功率模块提供了一套完整的解决方案。该平台还内置了保护机制,确保用户的安全和系统硬件的保护。

审核编辑:汤梓红

声明:本文内容及配图由入驻作者撰写或者入驻合作网站授权转载。文章观点仅代表作者本人,不代表电子发烧友网立场。文章及其配图仅供工程师学习之用,如有内容侵权或者其他违规问题,请联系本站处理。 举报投诉
  • 半导体
    +关注

    关注

    339

    文章

    31228

    浏览量

    266468
  • 脉冲
    +关注

    关注

    20

    文章

    911

    浏览量

    100053
  • 功率器件
    +关注

    关注

    43

    文章

    2221

    浏览量

    95470
  • K9WBG
    +关注

    关注

    0

    文章

    2

    浏览量

    7204
  • 是德科技
    +关注

    关注

    21

    文章

    1072

    浏览量

    85724

原文标题:Solution Talks | 宽禁带半导体(WBG)双脉冲测试方案

文章出处:【微信号:KeysightGCFM,微信公众号:是德科技快讯】欢迎添加关注!文章转载请注明出处。

收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二维码

扫码添加小助手

加入工程师交流群

    评论

    相关推荐
    热点推荐

    半导体软开关损耗分析及死区时间自优化算法:针对SiC的极致效率设计

    )和氮化镓(GaN)为代表的(Wide Bandgap, WBG半导体器件,凭借其突破硅(Si)基材料物理极限的材料特性,正在重塑高
    的头像 发表于 03-23 10:48 185次阅读
    <b class='flag-5'>宽</b><b class='flag-5'>禁</b><b class='flag-5'>带</b><b class='flag-5'>半导体</b>软开关损耗分析及死区时间自优化算法:针对SiC的极致效率设计

    碳化硅 (SiC) MOSFET 脉冲测试(DPT):探头干扰排除与真实波形获取技术研究

    碳化硅 (SiC) MOSFET 脉冲测试(DPT):探头干扰排除与真实波形获取技术研究
    的头像 发表于 03-21 19:48 380次阅读
    碳化硅 (SiC) MOSFET <b class='flag-5'>双</b><b class='flag-5'>脉冲</b><b class='flag-5'>测试</b>(DPT):探头干扰排除与真实波形获取技术研究

    光隔离探头在SiC/GaN半导体动态测试中的革命性应用

    半导体测试面临高速共模电压挑战,光隔离探头通过光纤传输实现无电干扰,具备高共模抑制和低输入电容优势。
    的头像 发表于 02-28 13:46 198次阅读

    带电力电子转换半导体工业标准深度分析:JEDEC JC-70 委员会规程对SiC碳化硅器件寿命评估框架

    WBG半导体已从实验室研发迈向大规模工业应用 。
    的头像 发表于 02-21 12:29 322次阅读
    <b class='flag-5'>宽</b><b class='flag-5'>禁</b>带电力电子转换<b class='flag-5'>半导体</b>工业标准深度分析:JEDEC JC-70 委员会规程对SiC碳化硅器件寿命评估框架

    电力电子DPT脉冲测试原理及其在国产碳化硅(SiC)功率模块替代进口IGBT模块进程中的技术价值

    随着全球能源结构的转型与电气化进程的加速,电力电子技术作为电能高效转换的核心,正经历着从硅(Si)基器件向WBG半导体器件——特别
    的头像 发表于 01-24 16:14 590次阅读
    电力电子DPT<b class='flag-5'>双</b><b class='flag-5'>脉冲</b><b class='flag-5'>测试</b>原理及其在国产碳化硅(SiC)功率模块替代进口IGBT模块进程中的技术价值

    “三个必然”战略论断对国产SiC碳化硅功率半导体行业的业务指引作用与产业演进路径

    全球半导体产业正经历从硅(Si)基向WBG)材料转型的历史性时刻,中国作为全球最大的功率半导体
    的头像 发表于 01-04 17:01 493次阅读
    “三个必然”战略论断对国产SiC碳化硅功率<b class='flag-5'>半导体</b>行业的业务指引作用与产业演进路径

    超越防护:离子捕捉剂如何在半导体封装中扮演更关键角色?

    随着碳化硅(SiC)、氮化镓(GaN)等宽半导体走向普及,其封装材料面临更高温度、更高电压的极端考验。传统的离子防护理念亟待升级。本文将探讨在此背景下,高性能离子捕捉剂如何从“被动防御”转向“主动保障”,成为高可靠性设计的核
    的头像 发表于 12-08 16:36 777次阅读
    超越防护:离子捕捉剂如何在<b class='flag-5'>宽</b><b class='flag-5'>禁</b><b class='flag-5'>带</b><b class='flag-5'>半导体</b>封装中扮演更关键角色?

    光隔离探头为什么在脉冲测试中不可或缺?

    (WBG)半导体材料,如碳化硅(SiC)和氮化镓(GaN)这些材料不仅在耐高温和耐高压方面表现出色,还具备低损耗、快速开关频率等特性。
    的头像 发表于 11-14 16:46 3747次阅读
    光隔离探头为什么在<b class='flag-5'>双</b><b class='flag-5'>脉冲</b><b class='flag-5'>测试</b>中不可或缺?

    博世引领半导体技术革新

    随着全球汽车产业向电动化、智能化迈进,半导体技术已成为推动这一变革的关键驱动力。特别是半导体材料,如碳化硅(SiC)和氮化镓(GaN)
    的头像 发表于 09-24 09:47 1006次阅读

    2025IEEE亚洲功率器件及应用研讨会落幕

    2025 年 8 月 15 日至 17 日,2025 IEEE 亚洲功率器件及应用研讨会(WiPDA Asia 2025)在北京国际会议中心成功举办。 本次功率器件研讨会由 IEEE 电力
    的头像 发表于 08-28 16:00 870次阅读
    2025IEEE亚洲<b class='flag-5'>宽</b><b class='flag-5'>禁</b><b class='flag-5'>带</b>功率器件及应用研讨会落幕

    泰克科技功率半导体脉冲测试解决方案

    采用碳化硅 (SiC) 和氮化镓 (GaN) MOSFET 器件构建的新型功率转换器设计,需要精心的设计和测试以优化性能。
    的头像 发表于 08-25 14:53 1598次阅读
    泰克科技<b class='flag-5'>宽</b><b class='flag-5'>禁</b><b class='flag-5'>带</b>功率<b class='flag-5'>半导体</b><b class='flag-5'>双</b><b class='flag-5'>脉冲</b><b class='flag-5'>测试</b>解决<b class='flag-5'>方案</b>

    示波器在半导体器件测试中的应用

    半导体产业作为现代科技的基石,其技术的发展日新月异。半导体器件从设计到生产,每个环节都对测试设备的精度、效率提出了严苛要求。示波器作为关键的测试测量仪器,在
    的头像 发表于 07-25 17:34 960次阅读
    是<b class='flag-5'>德</b>示波器在<b class='flag-5'>半导体</b>器件<b class='flag-5'>测试</b>中的应用

    2025新能源汽车领域发生哪些“变革”?

    :在刚刚过去的英飞凌2025年带开发论坛上,英飞凌与汇川等企业展示了半导体技术的最新进
    的头像 发表于 07-24 06:20 1767次阅读
    2025新能源汽车领域发生哪些“<b class='flag-5'>宽</b><b class='flag-5'>禁</b><b class='flag-5'>带</b>变革”?

    泰克科技测试方案:借助WBG-DPT软件的新型软件消偏方法加速脉冲测试

    )的脉冲测试软件 (WBG-DPT) 包含一种专为脉冲
    的头像 发表于 06-25 17:17 1862次阅读
    泰克科技<b class='flag-5'>测试</b><b class='flag-5'>方案</b>:借助<b class='flag-5'>WBG</b>-DPT软件的新型软件消偏方法加速<b class='flag-5'>双</b><b class='flag-5'>脉冲</b><b class='flag-5'>测试</b>

    泰克科技功率器件脉冲测试解决方案

    在当今快速发展的电力电子技术领域,功率半导体器件的性能优化至关重要。脉冲测试(DPT)作为一种关键的测试方法,为功率器件的动态行为评估提供
    的头像 发表于 06-05 11:37 1562次阅读
    泰克科技功率器件<b class='flag-5'>双</b><b class='flag-5'>脉冲</b><b class='flag-5'>测试</b>解决<b class='flag-5'>方案</b>