在NAND闪存的应用中,编程/擦除周期存在限制,称为“P/E周期”。在NAND闪存中,当每个块的P/E周期达到最大值时,这些块变得不可工作,需要一个备用块来替换它。当这些备用块用完时,此NAND闪存将无法再使用。因此,如果只写入和擦除某些块,则这些特定块的P/E周期将迅速消耗,备用块将很快耗尽,从而导致NAND闪存提前失效。
磨损均衡有三种类型:动态、静态和全局。动态磨损均衡仅处理可用空间,并确保写入行为仅发生在同一空间中擦除计数较低的块中。静态磨损均衡考虑了整个闪存芯片,包括空白区域和已写入的块。此技术将数据从擦除次数较少的块移动到其他块,以便可以保留写入时间较短的块以供将来使用。最后,还有全局磨损均衡,其中与静态磨损均衡的最大区别在于其范围扩展到整个设备,而静态磨损均衡仅适用于单个闪存芯片。这可确保写入行为发生在整个设备中写入频率较低的块中。
NAND 闪存控制器的供应商在开发时必须考虑 NAND 的这一特性。因此,磨损均衡旨在允许NAND闪存在整个模块使用过程中均匀分布,以便所有模块的P / E周期随着相同的数据而上升。该技术允许在产品达到其生命周期之前彻底使用所有模块,从而延长NAND闪存的使用寿命。因此,磨损均衡技术可以提高NAND闪存产品的可靠性和耐用性。
审核编辑:郭婷
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我打算把它放在 Native SDK 部分,但我想只有
人才会知道这个?
我正在为 EEPROMClass 编写一个替换类,以在闪存扇区内进行磨损均衡。我还想编写类来检测而不是使用坏的 4 字节区域
发表于 05-12 06:30
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