如何使用MXR示波器搭载N9311A近场探头来分析EMI问题
在电子产品的研发设计过程中，电磁干扰EMI(Electro Magnetic Interference)一直是研发工程师们非常关心的话题。因为电子设备会发出不需要的电磁场，并通过它们的连接线传输不需要的干扰电压和电流。过高的电磁干扰可能会造成电子设备的不稳定，可能会出现乱码，数据接触不良甚至宕机。
为了保证电子产品的顺利上市，产品的电磁辐射一定要符合各个国家的相关机构都制定的严苛标准，一般我们称为电磁兼容性(EMC)测试。所有电子相关的产品在上市前必须强制性通过电磁兼容性测试。因此在开发过程中及早检测、分析和纠正电磁干扰 (EMI) 的成因，能够可靠地确保成功通过 EMI 一致性测试，并有效避免在项目后期重新进行设计、推迟产品开发和额外增加成本。
Keysight推出的MXR中端示波器作为一台8合1产品，集成了RTSA实时频谱分析能力，搭载Keysight N9311A近场探头可实现EMI的预测试需求。MXR基于其快速的波形捕获能力和高速存储器，连续无死区捕获波形并进行FFT运算，然后进行Overlap运算处理提供实时频谱分析能力。
如何使用MXR示波器搭载N9311A近场探头来分析 EMI 问题?怎样用较大的探头，找到疑似区域，再逐渐减小探头尺寸，最终定位到干扰源?
原文标题：【6月13日】基于MXR示波器EMI测试分析
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发表于 07-17 10:42
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