用于3D TLC NAND的弹性纠错方案

在 NAND 工艺开发中，2D NAND 在 10 nm 左右已达到极限。由于平面 NAND 技术的浮栅内部的电子较少，因此 3D NAND 结构正在成为大容量存储系统的主流。

3D NAND 结构将平面浮动栅极旋转 90 度，并在彼此顶部堆叠许多层以增加容量。3D NAND 市场的大多数厂商——包括三星、东芝/WD、美光、海力士和英特尔。

使用 ECC 克服 3D NAND 的复杂性

由于 3D 结构的复杂性，可能会出现多种错误。这些包括层间读取干扰、写入干扰和数据保留问题。尤其是在大容量系统中，所有这些问题至少需要 NAND 闪存控制器，更具体地说，需要高级纠错算法。

不幸的是，多级单元 （MLC） NAND 技术中使用的传统 Bose-Chaudhuri-Hocquenghem （BCH） 纠错码 （ECC） 算法不足以用于 3D TLC NAND。需要更强大的低密度奇偶校验 （LPDC） ECC 算法。

LPDC ECC 使用硬件和软件机制来纠正位错误。硬件机制每 1 KB 可以纠正超过 120 位错误，而软件机制使用更复杂的错误纠正方法来解决几乎两倍的错误。但是虽然它们更强大，但基于软件的 ECC 操作需要更长的时间才能执行。

除了硬件和软件校正机制之外，3D NAND 还需要一种防止大量数据丢失的方法。这意味着必须在 NAND 控制器内部实现 RAID 功能，该功能可以解决 LPDC ECC 算法无法纠正的错误，例如整页错误或多个数据页的损坏。这个 RAID 功能当然需要一些额外的内存来进行奇偶校验和额外的计算资源，但确保 SSD 上的数据安全是非常值得的。

3D TLC NAND 设备的安全数据序列

图 1 显示了 SSD 控制器的 LDPC ECC 序列，包括上述 RAID 功能。在步骤中，SSD控制器必须实现的ECC序列如下：

首先使用硬件机制（hardware-decision）

如果步骤 1 失败，请尝试实施不同的 Vth（NAND 状态的电压电平）以获得最低的误码率，也称为读取移位或读取重试

接下来，实现软件机制（software-decision）来纠正错误

如果一切都失败了，请使用内部 RAID 功能

图 1. 在 3D TLC NAND 控制器上实施此 ECC 方案提供了一种纠正位错误的过程，该过程从资源密集度最低变为最强大。

更可靠的 3D TLC NAND

3D TLC NAND 代表了存储介质的转折点，提供了更低的每比特成本和更小的占用空间。然而，为了使市场扩展到嵌入式行业，该技术需要提供一套可持续的、可扩展的比特纠错解决方案。

通过实施上述 LPDC ECC 序列，在 NAND 控制器上终止强大的 RAID 功能，UDInfo相信，未来基于 3D TLC NAND 的设备可以保证 SSD 质量和数据完整性。

审核编辑：郭婷