M.2_KEY_B/E测试夹具应用场景

1.应用场景

支持M.2接口基板测试（M.2-Based Board Test）。

2.主要特点

· 阻抗一致性优越，差分阻抗85Ω±%5。

· 极低的插入损耗。

· 各通道skew差异小于±2ps。

· SI性能优化至16Gbps，符合PCIE4.0，SATA3.0协议。

· 高性能SMP连接器，最大带宽支持到60Ghz。

3.产品描述

M.2_KEY-B/E测试夹具采用标准M.2_KEEY_B/E金手指接口，支持PCIE1.0~4.0和SATA1.0~SATA3.0数据测试，采用SMP高速连接器与仪器连接，单块板卡机械尺寸为标准M.2板卡尺寸，22mm*80mm。

4.产品设计

M.2_KEY-B/E测试夹具板卡是测试主板的，代替M.2接口的板卡插在主板上测试信号。

M.2_KEY-B/E单板全部走微带线，无打孔，阻抗设计控制差分85欧姆，包含2倍校准线。采用高速SMP接头与仪器连接（最大带宽支持60Ghz）。

5.产品测试

测试仪器：KEYSIGHT 网络分析仪 E5071C（300khz—20Ghz）

通过同轴线缆和SMP转接线连接单板校准线，测试单板实际差分阻抗

经网络分析仪测试，单板PCIE信号线差分阻抗控制在85±5Ω

通过过同轴线缆和SMP转接线连接单板校准线，测试单板插入损耗。

经测试，20Ghz带宽内无谐振，测试结果为走线双倍线长的插入损耗，大概是-5.9~-6.2db，我们单根SMA转SMP线缆损耗是-1db，所以线缆总损耗是-2~-2.1db（8Ghz）

责任编辑：haq