R&S公司增强汽车雷达罩测试仪功能，为材料反射测量带来新的精度水平

罗德与施瓦茨（简称R&S公司）增强了其优质汽车雷达罩测试仪QAR，这是一种用于雷达集成测试的定制解决方案，只需数秒即可分析和评估雷达罩（车标）和保险杠相对于雷达的兼容性。

OEM整车厂和一级供应商通过新的 QAR-K50 单一天线集群测量软件，以非破坏性的、二维的方式进行测量，并能得到非常接近于以矢量网络分析仪 （VNA） 和准光学 （QO） 装置所获得的测量结果。此外，用户还将从 QAR的直观操作理念中获益。

QAR 是一套适用于雷达罩和保险杠的测试与验证的毫米波成像系统。得益于其出众的性能、速度、质量以及直观的操作，该系统成为一套完美的工具，应用范围覆盖从76 GHz到81 GHz的雷达罩材料和集成测试，包括从研发、生产到验证的各个环节。

高空间分辨率是以在入射角方面具有更大的扩展为代价的。典型的雷达传感器具有一定的视场（FOV），例如全范围雷达（FRR）是±10度，而短距离雷达（SRR）是±60度。根据材料表征技术，雷达罩的反射参数主要以垂直入射角来定义，因为这些参数可以使用矢量网络分析仪（VNA）进行测量。QAR-K50软件选件即基于这个主题。

将QAR提供的结果与使用标准矢量网络分析仪 （VNA） 和准光学 （QO） 装置测量的结果进行比较，利用QAR所用的较大孔径，能够观察到并解释测试对象的某些误差。

这就是QAR-K50软件选件发挥效力之处。它会自动检测材料样本中的最高反射和测试区域的平均值。反射区域的平均值在 7 秒内即可确定并将测量结果显示给用户。此数值与 VNA 的 S11 和 S22 反射测量结果非常匹配。

研发过程中用 VNA 和 QO 装置进行的测量结果，现在可以直接与QAR的测量结果进行比对。本系统仍然利用微波成像技术，但天线孔径更小，因此对定位误差的敏感度较低，比VNA装置更加适合于生产环境。即使样品定位稍有公差，QAR-K50软件也能够自行检测正确的测量区域，并为操作员提供光学反馈。

现在，QAR将适用于均一性分析的高分辨率图像（QAR-K10软件） 与稳健易用的反射测量相结合。以QAR-K50软件选件所得的测量值，可直接相当于 VNA 在 QO 设置中提供的结果。

编辑：jq