IT8700P多通道电子负载测试转换器的解密

问

AC／DC和DC／DC转换器广泛应用在各行各业，比如手机、数码相机、UPS电源内部、电动汽车等等。对于生产厂商来说，转换器的性能、安全、转换效率都是决胜市场的重要因素。所以从研发到生产每一步都需要去测试， 直流负载就是这些测试中必不可少的工具，不但可测试产品的正常工作电压、电流及功率外，还可以轻易的测试产品在临介值状态、动态变化及反应时间等等。但是工程师在使用负载测试产品的保护功能时，会发现有时候无法正常使用负载，这又是什么原因造成的呢？

答

今天我们就使用ITECH近期升级的一款高性能电子负载产品，IT8700P多路输入可编程直流电子负载来进行测试一个DC／DC组件，实际测试解密一下。IT8700P为高性能可编程多路电子负载IT8700的升级版本，保持了原有的25KHZ的较高动态测试速度，并且具备多个可选模块以及功能强大的主控机箱，并为了一进步满足不同客户的测试需求，可选配前置端子接线功能，并且对斜率速度，DAC 输出速度，CV 环路速度进行了一系列优化升级，能更好的满足测试需求。

解密测试

测试仪器

IT8732P（80V／60A／400W）＋IT8702P（主控单元）

测试背景

DC／DC组件正常工作输出电压为5V／1A。在电流上升超过2．8A时，产品会进入OCP的保护模式，直到异常状况排除后才会再回到正常工作模式。

测试问题1

1、Von设定为0．1V， latch设为off。

2、IT8732P设定为1A CC mode 拉载，待测物正常工作，输出5V／1A。

3、拉载电流增加到3A，待测物应该进入OCP保护模式。但此时却处于振荡的状态，电压值由0V ～ 4．8V 振荡。此时如果再将IT8732P的拉载电流降为1A，待测物则处于正常工作模式5V， 1A。

问题解密

造成振荡原因是因为待测物在进入OCP后的电压相互拉扯的结果。Von设定为0．1V， latch设为off。当待测物进入OCP后，电压值低于0．1V时，负载也会泄载，拉载电流下降，待测物测到电流低于其设定值后即恢复正常，电压回升后，负载又会进行拉载，此时又造成待测物进入OCP保护，如此循环就会造成振荡现象。所以此时我们只要把Von设定为0．001V时，此现象就不再发生，当然这也是和待测物设计特性有相关。

测试问题2

1、Von设定为0．001V， latch设为off。

2、IT8732P设定为1A CC mode 拉载，待测物正常工作，输出5V／1A。拉载电流增加到3A，待测物进入OCP保护模式。

3、拉载电流回到1A，待测物没有恢复成工作模式5V／1A。必须要先把IT8732P泄载切到OFF后，再加载切为ON时，待测物才会再处于正常的工作模式。

问题解密

待测物在进入OCP后的电压值约为0．017V，电流值约为0．81A。而IT8732P的最小工作电压为0．15V at 6A，相当于0．025V at 1A。所以当拉载电流由3A回到1A时，由于待测物电压值尚在0．017V低于0．025V，加上待测物本身设计OCP释放的关系，导致Load回到1A时，待测物仍无法正常工作，必须满足拉载电流低于0．8A及大于load最小工作电压，待测物才能恢复正常工作。

测试问题3

1、Von设定为0．001V， latch设为off。

2、待测物正常工作5V／1A时，执行Short功能，电压降至约0V。

3、当Short功能OFF时，负载设定值恢复，待测物电压并未回到5V。必须把IT8732P泄载切到OFF后，再加载切为ON时，待测物才会再处于正常的工作模式。

问题解密

执行SHORT功能后，待测物约为0．017V／0．81A。在SHORT功能OFF时，应该是要恢复回5V／1A，但当SHORT功能恢复时，即回到设定值的1A拉载，其值仍高于0．81A，故待测物仍处于未释放的状态，所以 SHORT功能OFF时，其值仍为电压0．017V，电流0．81A。当load泄载后，待测物才能恢复正常。

从以上的测试我们可以看到，不同的待测物由于其不同的设计特性，在进入保护后其电压值与电流值的关系与负载的性能会有些许冲突，导致测试时发生异常。所以我们在测试时要了解待测物与测试仪器本身的规格、特性与限制，才能避免造成误判，发挥测试仪器的最大效用。比如以上案例，我们只需在待测物进入OCP后，先将IT8732P的拉载电流降到0．8A以下，使得待测物释放后再进行下一个测试程序，即可完成测试。

关于ITECH

艾德克斯电子一直致力于“功率电子”产品为核心的相关产业测试领域的研究，IT8700P系列多路输入可编程直流电子负载继承了艾德克斯产品一贯的高性能、高品质，采取模块化结构设计，拥有全球独创动态分配功率的技术，可应用于多路或单路输出的AC／DC、DC／DC电源转换器、充电器等电源类电子元器件性能的测试，也可应用于ATE测试系统、太阳能电池、LED、通讯测试、航空航天等领域。

审核编辑：符乾江