s8254应用电路

　　s8254系列内置高精度电压检测电路和延迟电路，是用于3节或4节串联锂离子/锂聚合物可充电电池保护的IC。通过SEL端子的切换，可用来保护3节或4节串联电池。

　　数据总线缓冲器

　　数据总线缓冲器是一个三态、双向8位寄存器主要作用是与cpu进行数据交换，8位数据线D7～D0与CPU的系统数据总线连接，构成CPU和8254之间信息传送的通道，CPU通过数据总线缓冲器向8254写入控制命令、计数初始值或读取计数值。

　　s8254内部结构图

　　

　　s8254应用电路

　　在SEL端子=VDD电位时选择4节电池的情况下的S-8254A系列的测定方法。在SEL端子=VSS电位时，要选择3节电池的情况下，请将电源V4短路。

　　1. 工作时消耗电流、休眠时消耗电流

　　1.1 工作时消耗电流（IOPE）

　　在V1 = V2 = V3 = V4 = 3.5 V、VVMP = VDD时，VSS端子的电流即为消耗电流 （IOPE）。

　　1.2 休眠时消耗电流 （IPDN）

　　在V1 = V2 = V3 = V4 = 1.5 V、VVMP = VSS时，VSS端子的电流即为休眠时的消耗电流 （IPDN）。

　　2. 过充电检测电压、过充电解除电压、过放电检测电压、过放电解除电压、过电流检测电压1、过电流检测电压2、过电流检测电压3、CTL输入电压“H”、CTL输入电压“L”、SEL输入电压“H”、SEL输入电压 “L”

　　在VVMP = VSEL = VDD、VINI = VCTL = VSS、CDT端子=“开路”、V1 = V2 = V3 = V4 = 3.5 V的前提下，请确认COP端子以及DOP端子为“L” （VDD × 0.1 V以下的电压） （以下记载为初始状态）。

　　2.1 过充电检测电压 （VCU1）、过充电解除电压 （VCL1）

　　从初始状态开始缓慢提升V1的电压，COP端子的电压变为“H” （VDD × 0.9 V以上的电压）时V1的电压即为过充电检测电压 （VCU1）。之后，缓慢降低V1的电压，COP端子的电压变为“L”时V1的电压即为过充电解除电压 （VCL1）。

　　2.2 过放电检测电压 （VDL1）、过放电解除电压 （VDU1）

　　从初始状态开始缓慢降低V1的电压，DOP端子的电压变为“H”时V1的电压即为过放电检测电压 （VDL1）。之后，缓慢提升V1的电压，DOP端子的电压变为“L”时V1的电压即为过放电解除电压 （VDU1）。只要使Vn （n = 2 ~ 4）的电压产生变化，也与n = 1的情况相同可以计算出过充电检测电压 （VCUn）、过充电解除电压（VCLn）、过放电检测电压 （VDLn） 以及过放电解除电压 （VDUn）。

　　2.3 过电流检测电压1 （VIOV1）

　　从初始状态开始缓慢提升VINI端子的电压，DOP端子的电压变为“H”时VINI端子的电压即为过电流检测电压1 （VIOV1）。

　　2.4 过电流检测电压2 （VIOV2）

　　从初始状态开始设置CDT端子的电压为VSS之后，缓慢提升VINI端子的电压，DOP端子的电压变为“H” 时VINI端子的电压即为过电流检测电压2 （VIOV2）。

　　2.5 过电流检测电压3 （VIOV3）

　　从初始状态开始缓慢降低VMP端子的电压，DOP端子的电压变为“H”时VDD与VVMP的电压差（VDD − VVMP） 即为过电流检测电压3 （VIOV3）。

　　2.6 CTL输入电压“H” （VCTLH）、CTL输入电压“L” （VCTLL）

　　从初始状态开始缓慢提升CTL端子的电压，COP端子以及DOP端子的电压变为“H”时CTL端子的电压即为CTL输入H电压 （VCTLH）。之后，缓慢降低CTL端子的电压，COP端子以及DOP端子的电压变为“L” 时CTL端子的电压即为CTL输入L电压 （VCTLL）。

　　2.7 SEL输入电压“H” （VSELH）、SEL输入电压“L” （VSELL）

　　从初始状态开始设置V4 = 0V，确认DOP端子为“H”。之后，缓慢降低SEL端子的电压，DOP端子的电压变为“L”时SEL端子的电压即为SEL输入L电压 （VSELL）。之后，缓慢提升SEL端子的电压，DOP 端子的电压变为“H”时SEL端子的电压即为SEL输入H电压 （VSELH）。