SWA512大规模集成电路测试仪的应用优势和功能用途介绍

SWA512大规模集成电路测试仪

测试通道：

二维V-I动态阻抗端口测试通道：512路

二维V-I动态阻抗端口矩阵测试通道：512路

三维V-I-F动态阻抗端口测试通道：512路

设备可以64通道为步进最大扩充到2048组测试通道

功能用途：

1）集成电路的来料质量控制检测与筛选、一致性检测；

2）可用于集成电路、元器件研发测试；三维立体动态阻抗测试；

3）快速筛选假冒、仿制集成电路及元器件；

4）对不良器件进行三维动态阻抗失效分析；

5）非加电条件下对集成电路、电路板进行全面的端口动态阻抗测试分析；

6）快速准确定位失效集成电路故障管脚，高效查找故障电路板的失效I/O管脚；

7）测试安全可靠，全面解决器件工艺、电路板工艺问题，快速解决集成电路及电路板故障点定位问题；

8）进行集成电路和电路板阻抗一致性检测；

9）专业操作管理平台：可根据需求编辑测试流程程序，完成自定义化测试，软件管理平台兼容其他厂商设备。测试流程的制定贯穿整个测试过程，使集成电路、电路测试的过程形成标准的测试流程（维修流程、生产流程）。保证了测试工艺的一致性，排除人为因素的干扰。使测试简单、容易、标准化。

技术规格：

二维V-I动态阻抗端口测试通道：512路

二维V-I动态阻抗端口矩阵测试通道：512路

三维V-I-F动态阻抗端口测试通道：512路

设备可以64通道为步进最大扩充到2048组测试通道

实时探笔对比测试通道：4路

同步脉冲信号：4路

测试电压范围：2V ～ 50Vp-p；

显示图形模式：V-I、V-T、V-I-F、V-T-F；

信号电流范围：1μA to 150mA

测试阻抗范围：100Ω ～ 1MΩ；

三维立体V-I-F测量方式：扫频；

同步脉冲输出模式：单脉冲、双脉冲、三脉冲、四脉冲；

同步信号振幅：可调式由 +10 V ~- 10V；

主要优势：

1）提供软件开发平台，兼容其他厂商测试设备；

2）特有的V-T模式可测量器件的开关时间特性（配合同步脉冲）；可设定同步脉冲信号的宽度，进行可控硅元器件或FET的功能测试。可测试三段期间开关时间特性。

3）动态阻抗分析功能，可以对三维图形进行参数的测量；

4）变频或扫频三维立体V-I-F测量方式，三维立体显示器件的端口特性曲线，可以查找与器件频率有关的故障。检查与频率特性有关的器件或集成电路。

5）非加电条件下静态诊断集成电路， 不必外加电源即可进行测试。测试更安全：矩阵式扫频测试，脉冲输出进行的动态V/T测试。

责任编辑：gt