SN54ABT8245 带有八路总线收发器的扫描测试设备

描述

带有八进制总线收发器的ABT8245扫描测试设备是德州仪器SCOPE ^TM可测性集成电路系列的成员。该系列器件支持IEEE标准1149.1-1990边界扫描，便于测试复杂的电路板组件。扫描访问测试电路是通过4线测试访问端口（TAP）接口完成的。

在正常模式下，这些器件在功能上等同于'F245和'ABT245八路总线收发器。测试电路可以由TAP激活，以获取出现在器件引脚上的数据的快照样本，或者对边界测试单元执行自测试。在正常模式下激活TAP不会影响SCOPE ^TM八进制总线收发器的功能操作。

数据流由方向控制（DIR）和输出使能控制（）输入。根据DIR的逻辑电平，允许从A总线到B总线或从B总线到A总线的数据传输。输出启用（）输入可用于禁用设备，使总线有效隔离。

在测试模式下，正常运行禁止SCOPE ^TM总线收发器，并启用测试电路以观察和控制器件的I /O边界。启用后，测试电路可以执行IEEE标准1149.1-1990中描述的边界扫描测试操作。

四个专用测试引脚控制测试电路的操作：测试数据输入（TDI），测试数据输出（TDO），测试模式选择（TMS）和测试时钟（TCK）。另外，测试电路执行其他测试功能，例如数据输入上的并行签名分析（PSA）和来自数据输出的伪随机模式生成（PRPG）。所有测试和扫描操作都与TAP接口同步。

SN54ABT8245的特点是可在-55°C至125°C的整个军用温度范围内工作。 SN74ABT8245的工作温度范围为-40°C至85°C。


Technology Family
VCC (Min) (V)
VCC (Max) (V)
Bits (#)
ICC @ Nom Voltage (Max) (mA)
tpd @ Nom Voltage (Max) (ns)
IOL (Max) (mA)
Input Type
Output Type
Rating
Operating Temperature Range (C)

数据手册（1）

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