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SN54ABT18245A 具有 18 位总线收发器的扫描测试设备

数据:

描述

具有18位总线收发器的ABT18245A扫描测试设备是德州仪器SCOPE TM 集成测试能力的成员 -
电路系列。该系列器件支持IEEE标准1149.1-1990边界扫描,便于测试复杂的电路板组件。通过4线测试访问端口(TAP)接口完成对测试电路的扫描访问。

在正常模式下,这些器件是18位同相总线收发器。它们既可以用作两个9位收发器,也可以用作一个18位收发器。可以通过TAP激活测试电路,以获取出现在器件引脚上的数据的快照样本,或者对边界测试单元执行自检。在正常模式下激活TAP不会影响SCOPE TM 总线收发器的功能操作。

数据流由方向控制(DIR)和输出使能(OE \)输入控制。根据DIR的逻辑电平,允许从A总线到B总线或从B总线到A总线的数据传输。 OE \可用于禁用设备,以便有效隔离总线。

在测试模式下,SCOPE TM 总线收发器的正常操作被禁止,并且测试电路被启用以观察和控制输入/输出(I /O)边界该设备。当启用时,测试电路根据IEEE标准1149.1-1990中描述的协议执行边界扫描测试操作。

四个专用测试引脚观察并控制测试电路的操作:测试数据输入(TDI),测试数据输出(TDO),测试模式选择(TMS)和测试时钟(TCK) )。另外,测试电路执行其他测试功能,例如数据输入上的并行签名分析(PSA)和来自数据输出的伪随机模式生成(PRPG)。所有测试和扫描操作都与TAP接口同步。

SN54ABT18245A的特点是可在-55°C至125°C的整个军用温度范围内工作。 SN74ABT18245A的特点是在-40°C至85°C的温度范围内工作。

特性

  • 德州仪器 SCOPE TM 系列可测性产品
  • 德州仪器 Widebus TM 系列的成员
  • 兼容IEEE标准1149.1-1990(JTAG)测试访问端口和边界扫描架构
  • SCOPE TM 指令集
    • IEEE标准1149.1-1990必需说明,CLAMP和HIGHZ
    • 输入的并行签名分析
    • 从输出生成伪随机模式
    • 样本输入/切换输出
    • 输出的二进制计数
    • 设备识别
    • 偶数奇偶校验操作码
  • 最新技术 EPIC - II B < /i> TM BiCMOS设计显着降低功耗
  • 采用塑料收缩小外形(DL)和薄收缩小外形(DGG)封装和380密耳精细封装间距陶瓷扁平(WD)封装

SCOPE,Widebu s和EPIC-IIB是德州仪器公司的商标。

参数 与其它产品相比 边界扫描 (JTAG)

 
Technology Family
VCC (Min) (V)
VCC (Max) (V)
Bits (#)
ICC @ Nom Voltage (Max) (mA)
tpd @ Nom Voltage (Max) (ns)
IOL (Max) (mA)
Input Type
Output Type
Rating
Operating Temperature Range (C)
SN54ABT18245A
ABT    
4.5    
5.5    
18    
38    
5.4    
64    
TTL    
TTL    
Military    
-55 to 125