SN54BCT8245A 具有八路总线收发器的扫描测试设备

描述

具有八进制总线收发器的BCT8245A扫描测试设备是Texas Instruments SCOPE ^TM可测性集成电路系列的成员。该系列器件支持IEEE标准1149.1-1990边界扫描，便于测试复杂的电路板组件。扫描访问测试电路是通过4线测试访问端口（TAP）接口完成的。

在正常模式下，这些器件在功能上等同于'F245和'BCT245八路总线收发器。测试电路可以由TAP激活，以获取出现在设备终端的数据的快照样本，或者对边界测试单元执行自测试。在正常模式下激活TAP不会影响SCOPE ^TM八进制总线收发器的功能操作。

在测试模式下，SCOPE ^{TM <的正常操作/sup>八进制总线收发器被禁止，并且测试电路能够观察和控制器件的I /O边界。启用后，测试电路可以执行IEEE标准1149.1-1990中描述的边界扫描测试操作。}

四个专用测试终端控制测试电路的操作：测试数据输入（TDI），测试数据输出（TDO），测试模式选择（TMS）和测试时钟（TCK）。另外，测试电路执行其他测试功能，例如数据输入上的并行签名分析（PSA）和来自数据输出的伪随机模式生成（PRPG）。所有测试和扫描操作都与TAP接口同步。

SN54BCT8245A的特点是可在-55°C至125°C的整个军用温度范围内工作。 SN74BCT8245A的工作温度范围为0°C至70°C。

德州仪器SCOPE ^TM可测性产品系列的成员
Octal Test-Integrated电路
在功能上等效于正常功能模式下的'F245和'BCT245
兼容IEEE标准1149.1-1990（JTAG）测试访问端口和边界扫描架构
测试操作同步测试访问端口（TAP）
通过识别TMS引脚上的双高电平电压（10 V）实现可选的测试复位信号
SCOPE ^TM指令集
- IEEE标准1149.1-1990必需指令，可选INTEST，CLAMP和HIGHZ
- 输入并行签名分析
- 样本输入/切换输出
封装选项包括塑料小外形（DW）封装，陶瓷芯片载体（FK），标准塑料和陶瓷300密耳DIP（JT，NT）

SCOPE是德州仪器公司的商标。


Technology Family
VCC (Min) (V)
VCC (Max) (V)
Bits (#)
ICC @ Nom Voltage (Max) (mA)
tpd @ Nom Voltage (Max) (ns)
IOL (Max) (mA)
Input Type
Output Type
Rating
Operating Temperature Range (C)

数据手册（1）

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