Aeroflex应用于LTE基带、RF和协议的测试解决方案

　　概述

　　要想彻底和高效地测试LTE设备，就需要进行包括RF、基带和协议在内的全面测试。Aeroflex通过提供不断增加的产品系列帮助应对这些挑战。

　　长期致力于LTE测试领域使Aeroflex对LTE标准、决定系统性能的基本因素以及保证顺利部署的关键测试要求有深刻的理解。

　　Aeroflex的完整LTE测试解决方案系列涵盖LTE测试的所有方面。它们跨越从研发到制造的整个LTE设备供应链。Aeroflex的LTE测试解决方案可用于从芯片组到最终用户服务（包括基站和手机）的一切测试。

　　LTE基站测试仪

　　艾法斯推出LTE和LTE-A基站测试产品，是支持 3GPP当前LTE及今后LTE-A技术发展迈出的重要一步。TM 500 LTE/LTE-A基于可扩展的软件定义无线平台，为 3GPP LTE和LTE-A基础设施设备的开发、测试和验证提供方案。首款LTE TM 500产品于 2007年推出，此后，为满足LTE网络测试的各种要求不断扩充产品范围。系列产品目前具备单UE、多UE （针对调度、负载和容量测试） 及多小区测试功能。系统全面融合FDD和TDD 3GPP标准，提供完整的测试功能 （从RF到协议）。最近增加了LTE-A支持，同时继续跟踪 5GPP技术规格的快速发展。

　　系统通过专用频段无线卡 （支持实验室和空中传输），或多频段无线卡 （频率范围 400 MHz – 4GHz，仅适用于实验室测试） 支持 3GPP标准所有RF频段。

　　目前，TM 500已被全球各大基础设施供应商广泛采用，成为领先的E-UTRA基站测试设备。利用分层测试和自动接口，TM 500 LTE和LTE-A可在自动或包围测试配置环境下工作。

　　LTE UE测试仪

　　7100综合测试仪是一种LTE网络仿真拟器，适用于无线设备射频、基带和协议层测试。7100是射频设计与认证、功能测试、集成和衰落测试部门的理想解决方案。7100的易用性、综合测试功能、快速和低成本可使这些部门从中受益。

　　7100模拟E-UTRAN接入网和EPC （增强型分组核心网），为LTE终端提供真实的测试环境。测试程序控制仿真网络的特性，可创建大量重复使用的测试环境。测试仪可集成衰落模拟器和加性高斯白噪声 （AWGN） 源选件，可在实验室中建立实际环境下的信号条件。

　　

　　LTE在呼叫模式支持功能和应用测试

　　测试仪具有用来描述LTE移动设备性能的所有关键测试功能，无论无线接口端，还是协议栈，包括PDCP层，核心网和IMS层。7100网络仿真模式可准确评估设备端到端性能，以及正确的空闲模式和连接模式行为。在呼叫 （Call Box） 模式配有测试活动管理器，可通过7011触摸屏GUI定义和执行测试排序。

　　LTE RF参数测试

　　7100可在信令和非信令模式下执行完整的LTE RF测量。7100在呼叫模式提供轻松操作的界面，可在设备接入模拟网络时测量、监控LTE设备的运行状态。内置频谱分析仪为解决复杂的问题提供测量工具。同时，测试活动管理器可进行3GPP 36.S21-1 LTE FDD和TDD RF测试。

　　实际环境条件性能测试和数据吞吐量测试

　　7100具有LTE基带衰落、AWGN和内置RRM测试功能，可在实验室模拟各种实际环境下的信号条件。采用这种基于软件的创新无线技术，不仅可以减少增加衰退测试环境的成本，而且可在设计过程中提前完成测试，降低后期重新设计的费用，并减少现场实验的成本和时间。

　　专门用于协议记录与分析的LTE开发模式

　　7100开发模式专门支持协议栈开发和集成，L1、L2和L3协议层记录功能，可用于调试和解决开发过程中出现的问题。信息过滤和搜索功能便于导航。利用“场景向导”提供的简易拖放图形界面可轻松创建采用所有LTE子层的定制测试场景。

　　UE和基站LTE参数测试

　　3410系列数字射频信号发生器： 3410是一款灵敏的小体积射频信号发生器，它集宽广频率覆盖与高性能矢量调制功能于一体，是用于无线通信系统及部件测试的理想解决方案。为满足针对 802.11a、WiMAX、LTE或多载波UMTS等宽带宽调制系统测试的苛刻要求，所有3410系列数字射频信号发生器现在都具有增强的EVM性能。

　　LTE UE制造测试仪PXI

　　PXI 3000系列为LTE设备和组件厂商应对LTE生产测试中的挑战提供成熟、快速、灵活的解决方案。艾法斯设计的LTE制造测试解决方案，充分利用了艾法斯 PXI 3000为全球领先移动设备和芯片组厂商带来的优点。

　　PXI 3000 LTE测量套件在艾法斯率先推出的研发测试系统成功经验基础上构建，具有模块化PXI平台相同的测量性能，并提高了速度和灵活性，有助于LTE厂商顺利完成产品开发到量产的过渡，快速满足LTE设备不断增长的需求，同时保证产品质量并降低测试成本。

　　PXI 3000采用多种技术最大化设备测试的生产能力和产量，快速满足市场需求。

　　

　　PXI 3000 LTE测试功能

　　LTE分析支持1.4 MHz至20 MHz所有带宽以及QPSK、QAM16和QAM64调制类型的 FDD和TDD上行链路（SC-FDMA） 传输。艾法斯 PXI RF数字化仪与信号发生器任意组合可对所有3GPP频段进行LTE测试。

　　除数值测量结果，LTE测量套件还提供频谱包络、互补累积分布函数 （CCDF）、星座图、EVM对载波 （EVM vs.Carrier） 和EVM对符号 （EVM vs. Symbol） 跟踪显示功能。采用VB、C++或 .NET的全面可编程软件界面便于用户针对特定要求修改、调整测试系统。LTE产品所用部件也可采用IQCreator波形生成软件进行上行链路和下行链路 LTE FDD与TDD激励响应测量。IQCreator是各种AeroflexPXI数字射频信号发生器模块的一种附加选产品。

　　模块化PXI 3000平台可以随着测试要求的增长逐步扩展测试能力。系统可首先用来测试单天线设备，当开始生产带有多个发射天线的UE时，系统可通过简单的升级扩展MIMO支持。

　　全球电子测量技术与市场领导者——是德科技（原安捷伦电子测量事业部）UXM新品体验会将于近期拉开帷幕，欢迎各位业内人士踊跃参加，您的到来，将是KEYSIGHT的最大荣幸！报名地址请点击以下图片进入：