运行软件生成测试信号 - 安捷伦：LTE发射机ACLR性能的测量技术

　　随后，可以使用在 Agilent X 系列信号分析仪上运行的 Signal Studio 软件生成测试信号。生成信号之后，通过 LAN 或 GPIB 将波形下载到信号发生器。将信号发生器的射频输出端连接到信号分析仪的射频输入端，使用扫描频谱分析测量 ACLR 性能。在此例中，信号分析仪处于 LTE 模式，中心频率为 2.11GHz，选择了 ACP 测量。随后，通过从 LTE 应用程序中的一系列可用选项中（例如成对或非成对频谱、邻近信道和相间信道中的载波类型等选项），调用适当的参数和测试限制，根据 LTE 标准进行快速一键式 ACLR 测量。

　　对于 FDD 测量，LTE 定义了两种 ACLR 测量方法：一种是在中心频率和偏置频率上使用 E-UTRA（LTE）；另一种是在中心频率上使用 LTE，在邻近和相间的偏置频率上使用 UTRA（WCDMA）。图 2 显示了 E-UTRA 邻近和相间频偏信道的 ACLR 测量结果。对于此次测量，选择 5MHz 载波，由于下行链路有 301 个子载波，所以测量噪声带宽为 4.515MHz。

　　

　　图 2. 此处显示的是使用 Agilent X 系列分析仪获得的 ACLR 测量结果。第一个频偏（A）位于 5MHz 处，集成带宽为 4.515MHz。另一个频偏（B）位于 10MHz 处，具有相同的集成带宽。

　　优化分析仪设置

　　虽然上述的一键式测量提供了非常快速、易用、依据 LTE 标准的 ACLR 测量，但是工程师仍然可以对信号分析仪设置进行优化，获得更出色的性能。有四种方法可以优化信号分析仪，进一步改善测量结果：

　　• 优化混频器上的信号电平――优化输入混频器上的信号电平要求对衰减器进行调整，实现最小的限幅。有些分析仪能够根据当前测得的信号值自动选择衰减值。这为实现最佳的测量范围奠定了良好的基础。其它分析仪（例如 X 系列信号分析仪）拥有电子和机械衰减器，可以结合使用两者来优化性能。在这些情况下，机械衰减器只需进行细微的调整便可以获得更出色的结果，步进大约为 1 或 2dB。

　　• 更改分辨带宽滤波器――按下分析仪的带宽滤波器按键，可降低分辨率带宽。注：由于分辨率带宽降低，所以扫描时间会增加。扫描速度的降低，可以减少测量结果和测量速度的变化。

　　• 启动噪声校正――一旦启动噪声校正功能，分析仪将会进行一次扫描，以测量当前中心频率的内部本底噪声，并将在以后进行的扫描中从测量结果中减去该内部本底噪声。这种方法能够显著改善 ACLR，在一些情况下，改善幅度高达 5dB。

　　• 采用另一种测量方法。除了使用默认的测量方法（集成带宽或 IBW）之外，也可以采用滤波 IBW 方法。该方法使用了更加陡降的截止滤波器。虽然这种方法会降低功率测量结果的绝对精度，但是对 ACLR 结果没有不利影响。

　　通过结合使用这些方法，信号分析仪可以利用其嵌入式 LTE 应用程序自动优化 ACLR 测量，实现性能与速度的最佳搭配。对于典型的 ACLR 测量，测量结果可能改善高达 10dB 或更多（图 3）。如果测量需要最高的性能，那么可以进一步调整分析仪设置。

　　

　　图 3. 此处显示的是使用优化设置后的 Agilent X 系列信号分析仪获得的 ACLR 测量结果。与图 2 使用嵌入式 N9080A LTE 测量应用软件获得的结果相比，图 3 中的 ACLR 实现了 11dB 的改善。

　　总结

　　符合标准的频谱测量（例如 ACLR）对于射频工程师开发下一代无线系统具有极其重要的作用。然而使用 LTE 应用软件进行测量时，受多种因素的影响，邻近信道带宽的变化、发射滤波器的选择、不同带宽和不同干扰灵敏度的信道之间的射频变量的交互使得这些测量非常复杂。应对这一挑战的实用解决方案是使用安装有特定标准测量应用软件的频谱分析仪或信号分析仪。此组合能够减少复杂测量中的错误，自动配置限制表和指定的测试装置，确保测量具有出色的可重复性。使用分析仪优化技术可以进一步改善测量结果。