神秘的德州仪器DLP NIRscan Nano模块被大卸八块

　　为了将DLP NIRscan Nano评估模块(EVM)的硬件及光引擎解释清楚，网友拆解了一个早期由Coretronic公司生产的模块。需要注意的是，任何对光引擎的拆解会使NIRscan Nano EVM的保修失效。另外，去掉光引擎上的罩子会使灰尘和污垢聚集在光学器件上，从而影响到系统性能。此外，去掉上面的罩子会移动光学器件、狭缝和探测器，使这些元件错位，需要厂家重新进行对准和校准。如果拆除了狭缝，将需要把InGaAs探测器和DLP2010NIR返厂进行系统对准与校准。

　　我们先来快速浏览一下。如下图所示，基于DLP的分光计利用数字微镜器件 (DMD)和单点探测器取代了传统线性阵列探测器。通过按顺序打开与特定波长光相对应的一组镜列，对应光线被指向探测器，并被捕获。通过扫描DMD上的一组镜列，可以计算出吸收光谱。要获得与DLP分光计实现方式相关的更多细节，请参考DLP分光计设计注意事项 。

近红外 (NIR) 光谱光谱分析中的DLP技术提供以下优势：

　　与具有极小像素的线性阵列探测器相比，通过使用更大的单点1mm探测器，它能实现更高性能。

　　通过使用单元探测器和低成本光学器件，它能实现更低的系统成本。高分辨率DMD使得定制图形能够补偿每一个单独系统的光学失真。

　　能够捕获更大信号不仅得益于相比传统技术，DMD具有更大的光学扩展量（etendue），而且也受益于其快速、灵活、以及可编程的显示模式及滤波器设计。

　　借助可编程显示模式，DLP分光计能够：

　　通过控制一个镜列中的像素数量来改变到达探测器的光的强度。

　　通过控制镜列的宽度来改变系统的分辨率。

　　使用一组Hadamard图形来在一个模式内捕捉多个波长的光。然后，单独的波长数据可通过解码获取。每个模式内打开DMD像素数量的50%，将比上面提到的列扫描方式获得更强信号引至探测器/

　　使用定制光谱滤波器来选择需要的特定波长。

　　当前，DLP NIRscan Nano软件支持可变分辨率和Hadamard图形。不支持可变强度和定制光谱滤波器。光谱滤波器的示例请见SPI论文：由Eric Pruett撰写的德州仪器 (TI) DLP近红外分光计的最新开发实现了下一代嵌入式小巧、便携式系统。

　　DLP NIRscan Nano具有以下主要组件：

　　拿掉光引擎的罩子后，可以看到受其保护的DMD和探测器电路板。

探测器电路板包含以下主要组件

　　1mm非冷却Hamamatsu G12180-010A InGaAs光电二极管（探测器）。

　　OPA2376转阻低噪声放大器：将InGaAs探测器到ADC的信号放大。

　　ADS1255 ADC：将InGaAs探测器的已放大信号转换为用于Tiva处理的24位值。

　　TMP006热电偶传感器：测量InGaAs探测器系统的环境温度。这些值在每次扫描时被捕获。

　　REF5025：低噪声、极低漂移、高精度电压基准，它为转阻放大器和ADC提供2.5V基准。

　　OPA350：对转阻放大器的2.5V基准电压进行缓冲的高速运行放大器。

装上探测器后：