某消费电子终端上市公司实例：徳思特衰减器方案以1/3成本精准复现弱网与WiFi干扰场景

某全球消费电子领域上市公司，业务覆盖 POS 机、自助收银终端等商用智能终端产品，服务全球 100 多个国家和地区、超 20000 家行业客户。随着商用场景复杂化、无线环境密集化，其 POS 机等消费电子设备在实际部署中出现4G/5G弱网稳定性不足、WiFi 干扰易断连等问题，导致终端客诉率上升，影响终端用户正常营业。

为从根源定位信号问题、优化硬件与模块性能、提升产品出厂一致性，客户亟需一套精准、可复现、低成本、高效率的无线信号测试方案，用于研发问题定位与产线批量验证。

一、核心痛点

信号问题导致客诉频发，测试方案需兼顾成本与效率，POS 机在实际应用中出现两大核心问题。

1、4G/5G 弱网环境下设备稳定性不足

在弱信号场景中，POS 机为维持网络连接，会自动提升发射功率以尝试接入基站。发射功率长期处于极限状态，可能导致：

通信模块发热异常

模块硬件损伤风险升高

交易中断、数据出错、离线重启严重影响支付可靠性与商户使用体验。

2、WIFI 干扰环境下导致连接不稳定

商超、便利店、餐饮等场景中，大量手机、路由器、蓝牙设备、监控设备共存，2.4GHz/5GHz 频段同频、邻频干扰严重。POS 机因天线尺寸小、接收增益有限、抗干扰能力较弱，极易出现：

频繁断连

心跳包丢失

交易超时、支付失败直接影响商户正常运营

二、德思特方案

针对客户对“测试环境可复现、可量化、可对比”以及“方案成本可控、不依赖昂贵基站模拟器”的双重要求，德思特结合客户现场条件、被测对象形态及成本效率要求，提供不依赖基站模拟器、基于真实网络 + 精准可控衰减的轻量化测试方案，实现弱网性能与抗干扰能力的系统化验证。衰减器+合路器组合，低成本构建多场景测试环境针对客户需求，提出以衰减器为核心的测试方案，结合合路器实现多信号场景模拟。

1、4G/5G 弱网测试

衰减器模拟信号衰减，验证设备极限性能

（1）测试目标

验证 POS 机在弱信号下的发射功率稳定性，判断是否存在功率异常冲高现象。

配合电流计 / 功率计，监测通信模块在弱网下的工作电流、功耗变化，定位是否因弱网导致模块长期满功率工作引发损伤。

验证天线模组、射频通路性能，定位弱网场景交易中断、数据错误的根本原因。

建立弱信号阈值标准，用于后续产线一致性检测，提前筛除不良品。

（2）方案演进：从屏蔽室天线耦合到同轴直连

初始方案：屏蔽室天线耦合方案

客户POS机采用内置天线设计，且自身已配备屏蔽室。

基于此条件，初始方案构建如下：信号源置于屏蔽室外，经衰减器调控后，通过高增益全向天线辐射至屏蔽室内部，从而在室内形成信号强度可控的弱场测试环境。

4G/5G 弱网测试方案流程图

方案优化

问题描述：现场勘测发现，客户屏蔽室未预留射频接口，信号无法直接引入；同时屏蔽室空间较大，天线辐射方式易造成场强分布不均，测试可控性显著下降。

优化点：针对上述问题，采用专用屏蔽箱替代原有屏蔽室。屏蔽箱配备标准同轴转接口，并内置吸波材料，有效解决信号引入困难与场强分布不均两大瓶颈。

德思特屏蔽箱

德思特屏蔽箱

最终方案：同轴传导直连

问题描述：进一步检视被测件发现，客户测试对象并非整机，而是集成通信模块的主板电路。

基于此，方案由辐射耦合升级为同轴传导直连：通过IPEX转SMA/N型射频跳线，将POS机通信芯片的天线端口直接引出为标准同轴接口，并在射频链路中串联

TS-LDA-908v-2可调固定衰减器（衰减范围0~90dB），从而精确模拟不同弱网环境下接收信号的电平阈值。

最终方案产品连接图

方案演进对比图

（3）方案成果

无需基站模拟器，整体投入成本降低 60% 以上

直接复用现网信号，场景更真实

衰减精度高、调节灵活，可稳定覆盖-50dBm ~ -140dBm 全区间弱信号场景

同轴直连结构消除环境变量，问题定位更快、更准

既可用于研发问题分析，也可扩展至产线小批量验证

2、WIFI 干扰测试

衰减器+合路器调控信号，复现复杂干扰环境

（1）测试目标

量化不同干扰强度下 POS 机的连接稳定性，优化 WIFI 模块抗干扰算法。

（2）方案设计

采用TS-LPD-752-2 合路器将目标 WIFI 信号与干扰信号（通过衰减器调节强度）合并后输入 POS 机，模拟商场、超市等多设备WIFI干扰场景。

WIFI 干扰测试方案流程图

三、方案优势

1、轻量化组合，精准复现复杂环境

通过衰减器、合路器与屏蔽箱的轻量化组合，真实模拟4G/5G弱网场景及WiFi干扰环境，快速复现POS机信号不稳、断连、模块异常等典型客诉问题。

2、无需基站模拟器，显著降低测试成本

方案摆脱对昂贵基站模拟器的依赖，大幅缩减设备投入与维护成本，适合预算受限的研发与产线环境。

3、同轴直连+屏蔽保障，测试一致性高

采用同轴直连与全屏蔽环境设计，有效隔绝外界干扰，确保测试结果可复现、可对比，支撑长期可靠性验证。

4、双场景适用：研发定位 + 产线验证

既可用于研发阶段的问题根源分析，也可无缝迁移至产线进行批量验证，从源头提升产品出厂质量与商用稳定性。

审核编辑 黄宇