光子精密光谱共焦传感器提升VR眼镜偏振片工艺质量与生产效率

在VR，AR眼镜等高端光学器件（如偏振片、反射片、Pancake分光镜）的生产中，涂布厚度均匀性、模切后的整体厚度与角度轮廓是决定产品最终光学性能与良率的核心质控点。

偏振片/反射片在生产过程中，其厚度均匀性直接影响产品光学性能。当前主要痛点集中在：

接触损伤风险：传统接触式测量易划伤光学膜层

数据可靠性不足：高反光与透明层叠结构使传统光学测量受干扰

多层测量挑战：偏振片的多层复合结构使单层厚度测量困难

生产效率瓶颈：离线抽样检测无法满足高速产线100%质量监控需求

为解决这一痛点，光子精密专为VR，AR眼镜等高端光学器件推出了高精度检测方案，能非接触、高精度地解决当前偏振片、反射片、Pancake分光镜厚度检测面临的多种难题。

该传感器采用光谱共焦原理。它通过分析反射光的波长来换算距离，从根本上摆脱了传统方法受光强变化影响的弊端，尤其擅长处理镜面、透明体等复杂材质。

亚微米级精度：厚度测量分辨率达0.025μm，精准捕捉偏振片微小厚度变化

多层穿透测量：单次扫描即可识别最多5层透明介质，完美适配复合光学薄膜结构

纯光学探头：完全免疫电磁干扰，适应车间复杂电磁环境

温度稳定性：无热源设计与低热膨胀材料确保长期测量稳定性

高速测量：260kHz采样频率满足高速产线实时监控需求

多探头集成：单控制器支持多传感器，降低系统成本

小巧探头：微型化设计适应狭窄空间安装需求

具体应用体现在以下三个方面：

在光学涂布工序：
在涂布过程中，通过上下对射形式的CD-5000系列光谱共焦位移传感器能够单次扫描即穿透涂层表面，同步捕捉基材与涂层上下界面的位置信号。无需双面校准，即可实时计算出涂布厚度。其厚度测量下限达5μm的高分辨率，足以监控精密的涂层变化。这将使我们从依赖离线、抽样检测的传统模式，升级为在线、全检的100%质量监控，从源头保障每一片产品的涂布均匀性，杜绝批量性涂层不良。

在模切与成型工序：

整体厚度测量：对于模切后的偏光片成品，其亚微米级的超高精度能够准确测量产品的总厚度，确保其符合设计公差，对于控制产品整体形态与装配间隙至关重要。

角度与轮廓测量：Pancake方案分光镜等产品对角度工艺要求极高。CD-5000系列具备高达260kHz的采样频率，可对产品表面进行高速扫描，形成海量的高度数据，分析其倾斜、翘曲、平面度等关键角度参数。其最大可测倾角达60°的强大能力，确保即使在有翘曲的薄膜上，测量点也不会丢失，数据真实可靠。

3.环境适应性：
生产车间存在不可避免的电磁干扰、温度波动与机械震动。CD-5000系列的纯光学探头能彻底免疫电磁干扰；其无热源设计与低热膨胀系数材料确保了在车间环境下极低的温漂和优异的抗震动性能，保证测量数据的长期稳定与可靠，杜绝因设备本身不稳定导致的误判。