STD2000X：半导体分立器件静态电性测试的全场景解决方案

在半导体设计与制造过程中，器件性能的精确测试是确保产品可靠性与一致性的关键环节。苏州永创智能科技有限公司推出的STD2000X 半导体静态电性测试系统，正是面向 Si、SiC、GaN 等材料的分立器件、复合器件及部分 IC 类产品的综合测试平台，覆盖从研发验证到量产筛选的全流程需求。

一、广泛适配的测试器件与参数

STD2000X 支持多达 20 类常见半导体器件 的静态参数测试，包括：

功率器件：IGBT、MOSFET、J-FET、SCR、TRIAC

三极管与二极管：BJT、Zener、DIAC、Darlington

光电与逻辑器件：光耦、光电开关、光电逻辑模块

保护类元件：MOV、SSOVP、Varistor

模块与集成组件：IPM、Regulator、继电器等

系统可精准测量如 ICES、BVCES、VGETH、RDSON、HFE、CTR、VF 等关键参数，并具备 nA 级漏电流 与 pA 级微电流 的测试能力，满足第三代半导体材料对测试精度的严苛要求。

二、专业级的测试能力与扩展性

STD2000X 不仅提供静态参数测试，还集成 IV 曲线扫描、光耦动态参数、二极管反向恢复时间（Trr） 等进阶功能。用户可通过系统实时绘制如：

IC vs VCE（IGBT）

ID vs VDS（MOSFET）

HFE vs IC（BJT）

IF vs VF（Diode）

等曲线，全面掌握器件在不同工作点下的电气特性。
系统在 电压与电流驱动 方面具备高度灵活性：

高压源可选 2000V（可扩展至 3kV）

高流源支持 100A（可选 500A/1000A）

栅极电压达 40V/100V，适应各类驱动场景

三、面向多场景的测试配置

STD2000X 适用于多种半导体工艺与品控环节：

研发分析：快速验证器件设计模型与实际性能的匹配度

失效分析：定位异常器件的失效机理与参数偏移

来料检验：对入厂器件进行全检或抽检，保障良率

量产测试：支持连接探针台、分选机、编带机、机械手等，实现每小时 7K–30K 颗的测试效率

系统还支持 高低温试验舱，可在 -55°C 至 +150°C 范围内进行温度特性测试，模拟器件真实工作环境。

四、人性化软件与校准机制

STD2000X 的程控软件基于 LabVIEW 与 C++ 双平台开发，具备“填充式”菜单界面，支持中英文语言切换，上手迅速。系统内置 校准模块，用户可通过 RS232 接口连接高精度数字表进行自主校验，保障长期测试的准确性。

结语
STD2000X 不仅是苏州永创在半导体测试领域技术积累的体现，更是一款真正具备 高精度、高灵活性、全场景覆盖 的测试平台。无论是在科研院所、器件设计公司，还是封装测试产线，它都能为工程师提供可靠的数据支撑与高效的测试流程，助力半导体器件从设计到量产的每一个环节。

审核编辑 黄宇