光电子半导体市场新趋势

随着汽车照明技术的快速发展，新型光电子半导体器件不断涌现，为汽车行业带来革新。为保证驾驶安全，AEC Q102标准作为国际公认的规范，为车载光电子半导体器件的质量和可靠性设立了严格的要求，对推动整个汽车行业的发展具有重要意义。

然而，随着照明技术的飞速进步，新型光电子半导体和相关技术往往与照明应用并行开发，这使得有时难以遵循AEC Q102 表2描述的常规鲁棒性 (Robustness Validation) 验证方法。

AEC Q102认证等级要求

对于光电子半导体而言，其使用寿命很大程度上取决于具体的应用类型。因此，室内照明通常与外部尾灯和前灯照明应用有不同的要求。此外，适用于卡车的应用可能与大多数私人汽车的要求也有所不同。针对这些问题，AEC Q102标准对光电子半导体的认证等级做出了划分，如下表1和表2：

其中，鲁棒性等级-0 (RV-level 0) 就是目前常规的AEC Q102测试认证。需要注意的是，在达到最终的鲁棒性等级 (RV-level) 所要求的测试时长后，需要进行破坏性物理分析 (DPA)，超过1000小时/循环 (RV-level 1 & 2) 以后的样品数量可以减少到30 (3批，每批10个部件)。同时，更高等级鲁棒性测试的失效判定同样遵循AEC Q102的判定标准，并且要求0失效。

附加测试建议

RV-level 1 & 2是仅用于鲁棒性评估的附加测试。通过AEC Q102表2中定义的测试（RV-level 0）已经可以认为光电子半导体器件符合AEC Q102标准。

特别是对于RV-level 1 & 2，强烈建议通过过应力测试来确定失效模式和加速参数。以下测试基于SAE/USCAR-33推荐：

高温工作寿命

结温Tj = 最大规定Tj +15°C （对于功率低于1W的低功率和中等功率LED，为Tj +30°C）

正向电流IF = 1.25倍最大规定IF （对于功率低于1W的低功率和中等功率LED，为1.5倍）

高湿度与温度工作寿命

环境条件：85°C，85%相对湿度

正向电流IF = 1.25倍最大规定IF （对于功率低于1W的低功率和中等功率LED，为1.5倍）

功率温度循环

温度范围TS = -40°C 至 125°C

每个温度保持10分钟，转换时间20分钟

每次通电/断电2分钟

正向电流IF = 1.3倍最大规定IF （对于功率低于1W的低功率和中等功率LED，为1.5倍）

温度冲击

温度：-55°C/150°C

每个温度保持15分钟，转换时间小于10秒

样本大小：

78个器件（分为3批，每批26个器件）

应力持续时间：

直到50%的样本失效，最长1500小时/循环

按照AEC Q102进行预处理，并执行应力测试前后的光电参数测试。

对于失效判定，应遵循AEC Q102判定标准。

对于每个测试，应对2个 (失效的) 器件进行破坏性物理分析 (DPA)。

目前，越来越多的厂商已经不再仅仅局限于常规的AEC Q102测试认证，而是对光电子器件的鲁棒性等级提出了更高的要求，以适应市场和消费者的需求。SGS拥有全套AEC Q102的测试认证能力，并提供更高RV-level的测试服务，致力于为客户的光电子器件提供全方位的可靠性保障，助力产品在全球市场上脱颖而出。